Параметрическая идентификация кристаллических решёток на основе анализа конфигурации изоповерхностей

Abstract

В работе рассматривается подход к идентификации кристаллических решёток на основе анализа конфигурации изоповерхностей. Данный подход позволяет оценивать взаимное расположение узлов внутри элементарной ячейки, что, теоретически, должно обеспечивать благоприятные условия для создания методов идентификации, устойчивых к искажениям структуры. Основная проблема, заключающаяся в высокой вычислительной сложности алгоритма, решается в работе с помощью модификации метода, использующей свойство периодичности структуры кристаллической решётки. Проведённое исследование разработанного метода на большой базе эталонных решёток подтвердило его высокую устойчивость к искажениям структуры вплоть до максимального искажения, составляющего 10 % от размера элементарной ячейки. The paper deals with an approach to crystal lattice identification based on the isosurface configuration analysis. The approach allows us to evaluate the relative position of lattice nodes inside the unit cell. Theoretically, this should provide favourable conditions for creating identification methods that are resistant to structural distortions. The crucial problem with the high computational complexity of the algorithm is solved by modification of the method using the periodicity property of crystal lattice structures. A study of the developed method on a large base of reference lattices confirmed its high resistance to structural distortions up to a maximum distortion of 10 % of unit cell’s size.