Title: Измерение профиля температуры перегрева поверхности светоизлучающей гетероструктуры по температурному спаду яркости свечения
Authors: Сергеев В. А.
Фролов И. В.
Радаев О. А.
Keywords: распределение температуры
распределение яркости свечения
светодиоды
светоизлучающие гетероструктуры
методика измерений
экспериментальные исследования
яркость электролюминесценции
температура перегрева
температурный мэппинг
Issue Date: 2022
Citation: Сергеев, В. А. Измерение профиля температуры перегрева поверхности светоизлучающей гетероструктуры по температурному спаду яркости свечения / В. А. Сергеев, И. В. Фролов, О. А. Радаев // Информационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2022) : сб. тр. по материалам VIII Междунар. конф. и молодеж. шк. (г. Самара, 23 - 27 мая) : в 5 т. / М-во науки и образования Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т систем обраб. изобр. РАН - фил. ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН. - Самара : Изд-во Самар. ун-та, 2022Т. 1: Компьютерная оптика и нанофотоника / под ред. Е. С. Козловой. - 2022. - С. 011742.
URI: http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/12236
Appears in Collections:Информационные технологии и нанотехнологии

Files in This Item:
File SizeFormat 
978-5-7883-1789-2_2022-011742.pdf944.96 kBAdobe PDFView/Open


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.