Title: Разработка векторного алгоритма параметрической идентификации трёхмерных кристаллических решёток на основе оценки расстояний между двумерными слоями
Authors: Широканев, А.С.
Кирш, Д.В.
Куприянов, А.В.
Issue Date: 2017
Publisher: Новая техника
Citation: Широканев А.С. Разработка векторного алгоритма параметрической идентификации трёхмерных кристаллических решёток на основе оценки расстояний между двумерными слоями / А.С. Широканев, Д.В. Кирш, А.В. Куприянов // Сборник трудов III международной конференции и молодежной школы «Информационные технологии и нанотехнологии» (ИТНТ-2017) - Самара: Новая техника, 2017. - С. 1615-1619.
Abstract: Параметрическая идентификация является важной задачей исследования структур трёхмерных кристаллических решёток. Применение градиентного метода с постоянным шагом для решения данной задачи позволило добиться существенного роста точности идентификации. Однако вычислительная сложность применённого алгоритма значительно превышает вычислительную сложность существующих алгоритмов параметрической идентификации, что привело к существенному росту времени выполнения. Для преодоления указанного недостатка в настоящей работе предлагается векторный алгоритм параметрической идентификации кристаллических решёток, реализованный с применением технологии CUDA.
URI: http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/12066
Appears in Collections:Информационные технологии и нанотехнологии

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
paper 291_1615-1619.pdfОсновная статья. Раздел: Высокопроизводительные вычисления507.35 kBAdobe PDFView/Open


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.