1. Репозиторий Самарского национального исследовательского университета имени академика С.П. Королёва
  2. 04. Материалы конференций
  3. Информационные технологии и нанотехнологии
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorКозлова Е. С.
dc.contributor.authorСтафеев С. С.
dc.contributor.authorКотляр В. В.
dc.coverage.spatialугол падения
dc.coverage.spatialсканирующая ближнепольная оптическая микроскопия (СБОМ)
dc.coverage.spatialпирамидальный апертурный кантилевер
dc.coverage.spatialкруговая поляризация
dc.coverage.spatialлинейная поляризация
dc.creatorКозлова Е. С., Стафеев С. С., Котляр В. В.
dc.date2024
dc.date.accessioned2025-08-22T12:18:06Z-
dc.date.available2025-08-22T12:18:06Z-
dc.date.issued2024
dc.identifier.identifierRU\НТБ СГАУ\563040
dc.identifier.citationКозлова, Е. С. Численное моделирование процесса измерения электромагнитного поля апертурным кантилевером / Е. С. Козлова, С. С. Стафеев, В. В. Котляр // Информационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2024) : сб. тр. по материалам X Междунар. конф. и молодеж. шк. (г. Самара, 20-24 мая 2024 г.): в 6 т. / М-во науки и высш. образования Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т). - Самара : Изд-во Самар. ун-та, 2024. - Т. 1: Компьютерная оптика и нанофотоника / под ред. Е. С. Козловой. - С. 010052.
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/12003-
dc.description.abstractВ работе оценивается влияниеполяризации падающего излучения на измерениепирамидальным апертурным кантилевером. Численноемоделирование процесса обнаружения было выполнено сприменением метода конечных разностей во временнойобласти с учетом частотной зависимости. Мы численнопродемонстрировали, что угол падения и поляризацияпучка могут влиять на процесс измерения апертурнымалюминиевым кантилевером. Результаты моделированияпоказывают, что с увеличением угла наклона общаяинтенсивность внутри кантилевера уменьшаетсяпримерно на 50% и 30% для линейно и циркулярнополяризованного света. Это доказывает, что апертурныйалюминиевый кантилевер нечувствителен к продольнойсоставляющей.
dc.languagerus
dc.relation.ispartofИнформационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2024) : сб. тр. по материалам X Междунар. конф. и молодеж. шк. (г. Самара, 20-24 мая 2024 г.): в 6 т.
dc.sourceИнформационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2024). - Т. 1 : Компьютерная оптика и нанофотоника
dc.subjectугол падения
dc.subjectсканирующая ближнепольная оптическая микроскопия (СБОМ)
dc.subjectпирамидальный апертурный кантилевер
dc.subjectкруговая поляризация
dc.subjectлинейная поляризация
dc.titleЧисленное моделирование процесса измерения электромагнитного поля апертурным кантилевером
dc.typeText
dc.citation.spage010052
dc.citation.volume1
local.contributor.authorКозлова Е. С.
local.contributor.authorСтафеев С. С.
local.contributor.authorКотляр В. В.
local.identifier.oldurihttp://repo.ssau.ru/handle/Informacionnye-tehnologii-i-nanotehnologii/Chislennoe-modelirovanie-processa-izmereniya-elektromagnitnogo-polya-aperturnym-kantileverom-112268
Appears in Collections:Информационные технологии и нанотехнологии

Files in This Item:
File SizeFormat 
978-5-7883-2078-6_2024-010052.pdf421.54 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.