| Title: | Динамика поведения модели электрохимической реакции под воздействием случайных возмущений |
| Other Titles: | Dynamics of the electrochemical reaction behavior under the influence of random perturbations |
| Authors: | Фирстова, Н.М. |
| Issue Date: | May-2019 |
| Publisher: | Новая техника |
| Citation: | Фирстова Н.М. Динамика поведения модели электрохимической реакции под воздействием случайных возмущений / Фирстова Н.М. // Сборник трудов ИТНТ-2019 [Текст]: V междунар. конф. и молодеж. шк. "Информ. технологии и нанотехнологии": 21-24 мая: в 4 т. / Самар. нац.-исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т систем. обраб. изобр. РАН-фил. ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН; [под ред. В.А. Соболева]. - Самара: Новая техника, 2019. – Т. 3: Математическое моделирование физико-технических процессов и систем. - 2019. - С. 266-269. |
| Abstract: | В работе исследуется стохастическая динамика модели электрохимической реакции. В зависимости от интенсивности шума случайные траектории концентрируются в малой окрестности траекторий исходной невозмущенной модели. Показана зависимость порогового значения интенсивности шума от управляющего параметра системы. Найдено критическое значение шума, отвечающее переходу от тректории-утки к релаксационным колебаниям в модели. We study the stochastic dynamics of the electrochemical reaction model. Random trajectories are concentrated in a small neibourhood of the initial determenistics unperturbed orbits of the dynamic model. It is shown that the threshold noise intensity depends on the control parameter of the system. A critical value of the noise intensity corresponding to the transitions from the canard to the limit cycle is found. |
| URI: | http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/11444 |
| Appears in Collections: | Информационные технологии и нанотехнологии |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| paper42.pdf | Основная статья | 1.8 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.