Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorПеченин, В.А.
dc.contributor.authorБолотов, М.А.
dc.contributor.authorСтепанова, Е.Р.
dc.date2016
dc.date.accessioned2025-08-22T12:19:47Z-
dc.date.available2025-08-22T12:19:47Z-
dc.date.issued2016
dc.identifier.identifierDspace\SGAU\20161209\60709
dc.identifier.citationМатериалы Международной конференции и молодёжной школы «Информационные технологии и нанотехнологии», с. 447-452
dc.identifier.isbn978-5-7883-1078-7
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/11345-
dc.description.abstractВ работе проведены измерения координат точек плоской поверхности, обработанной шлифованием, на координатно-измерительной машине. В измеренных точках рассчитаны отклонения от номинальной геометрии и проведены серии экспериментов по фильтрации значений отклонений от погрешности средства измерения. Проведен анализ соответствия отфильтрованной погрешности нормальному закону распределения. Так же проведен корреляционный анализ. Рассмотренный в работе фильтр и анализ результатов его применения реализованы в программном пакете MATLAB и могут быть применены в программном обеспечении измерительных средств при контроле отклонений геометрии различных деталей.
dc.languagerus
dc.publisherИздательство СГАУ
dc.titleИспользование билатерального фильтра для оценки и анализа отклонений геометрии поверхностей
dc.typeArticle
local.identifier.oldurihttp://repo.ssau.ru/handle/Informacionnye-tehnologii-i-nanotehnologii/Ispolzovanie-bilateralnogo-filtra-dlya-ocenki-i-analiza-otklonenii-geometrii-poverhnostei-60709
local.identifier.oldurihttp://repo.ssau.ru/handle/Informacionnye-tehnologii-i-nanotehnologii/Ispolzovanie-bilateralnogo-filtra-dlya-ocenki-i-analiza-otklonenii-geometrii-poverhnostei-60709
Appears in Collections:Информационные технологии и нанотехнологии

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
447-452.pdfОсновная статья641.54 kBAdobe PDFView/Open


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.