Browsing by Subject тестовые переходные процессы

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z

А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я

or enter first few letters:  
Showing results 1 to 13 of 13
Issue DateTitleAuthor(s)
1980Анализ структурных вариантов подсистем сбора, использующих тестовые переходные процессыСкобелев О. П.
1986Динамические характеристики интегрирующего аналого-цифрового преобразователя с индуктивным датчикомВилоп Л. Э.
1982Имитационные модели элементов подсистем сбора и преобразования измерительной информацииКиреев В. А.; Скобелев О. П.
1979Методы преобразования на основе тестовых колебательных переходных процессовСкобелев О. П.
1975Методы преобразования, основанные на тестовых переходных процессахБарсуков Ю. И.; Болтянский А. А.; Секисов Ю. Н.; Скобелев О. П.
1984Методы тестовых переходных процессов при линейных возмущающих воздействияхСкобелев О. П.; Xритин А. А.
1984Модуль преобразования сигналов экранных датчиков в стандарте КАМАКСекисов Ю. Н.; Сосняков К. Д.; Шлыков Н. М.
1979Мостовая измерительная цепь для индуктивных датчиков в импульсном режимеСекисов Ю. Н.; Скобелев О. П.
1979О линеаризации характеристики полупроводникового термосопротивленияРайков Б. К.; Юмашева Н. Л.
1986Обобщенные модели неидеальных измерительных цепей в методах тестовых переходных процессовСкобелев О. П.
1975Особенности применения амплитудных аналого-цифровых преобразователей в измерительных системах на основе тестовых переходных режимовИоффе В. Г.; Пшеничников Ю. В.
1975Структура многоканальных преобразователей, использующих тестовые переходные процессыБолтянский А. А.; Васин Н. Н.; Компанец В. К.; Райков Б. К.; Секисов Ю. Н.; Скобелев О. П.
1985Физическая модель индуктивного датчика для измерительной системы с интегрирующим преобразованиемВилоп Л. Э.