Отрывок: Магнитный толщиномер Константа К5 требуется для измерения толщины немагнитных проводящих и диэлектрических покрытий, нанесенных на ферромагнитную основу. Устройство основано на методах вихретоковой фазовой и импульсной индукции для получения первичной информации. Погрешность прибора составляет Т = 0…500 мкм не более ±(0,02Т + 1) мкм; в диапазоне Т > 500 мкм не более ±0,02Т мкм Образец покрытием измерили 10 раз вдоль поверхности и построили гисто...
Название : Улучшение качества процесса исследования при нанесении плазменных покрытий за счет применения современных методов
Авторы/Редакторы : Василега А. В.
Докукина И. А.
Самохвалов В. Н.
Министерство науки и высшего образования Российской Федерации
Самарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет)
Институт авиационной и ракетно-космической техники
Дата публикации : 2022
Библиографическое описание : Василега, А. В. Улучшение качества процесса исследования при нанесении плазменных покрытий за счет применения современных методов : вып. квалификац. работа по направлению подгот. 27.03.02 "Управление качеством" (уровень бакалавриата) / А. В. Василега ; рук. работы И. А. Докукина ; нормоконтролер В. Н. Самохвалов ; М-во науки и высш. образования Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т авиац. и. - Самара, 2022. - 1 файл (3,4 Мб). - Текст : электронный
Аннотация : Объектом исследования являются методы измерения показателей качества плазменных покрытий. Целью дипломной работы является повышение точности измерений показателей качества плазменных покрытий за счет применения современных методов исследования.Задачи:1) Изучить показатели качества плазменных покрытий и методы их исследования2) Изучить современные методы исследования и возможность их использования для изучения свойств плазменных покрытий.3) Применить современные методы исследования плазменных покрытий с целью повышения точности процесса измерений
URI (Унифицированный идентификатор ресурса) : http://repo.ssau.ru/handle/Vypusknye-kvalifikacionnye-raboty/Uluchshenie-kachestva-processa-issledovaniya-pri-nanesenii-plazmennyh-pokrytii-za-schet-primeneniya-sovremennyh-metodov-99805
Другие идентификаторы : RU\НТБ СГАУ\ВКР20220930161416
Ключевые слова: гистограмма
микротвердость
нанесение плазменных покрытий
плазменное напыление
пористость
толщина покрытия
Располагается в коллекциях: Выпускные квалификационные работы




Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.