Отрывок: Магнитный толщиномер Константа К5 требуется для измерения толщины немагнитных проводящих и диэлектрических покрытий, нанесенных на ферромагнитную основу. Устройство основано на методах вихретоковой фазовой и импульсной индукции для получения первичной информации. Погрешность прибора составляет Т = 0…500 мкм не более ±(0,02Т + 1) мкм; в диапазоне Т > 500 мкм не более ±0,02Т мкм Образец покрытием измерили 10 раз вдоль поверхности и построили гисто...
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Василега А. В. | ru |
dc.contributor.author | Докукина И. А. | ru |
dc.contributor.author | Самохвалов В. Н. | ru |
dc.contributor.author | Министерство науки и высшего образования Российской Федерации | ru |
dc.contributor.author | Самарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет) | ru |
dc.contributor.author | Институт авиационной и ракетно-космической техники | ru |
dc.coverage.spatial | гистограмма | ru |
dc.coverage.spatial | микротвердость | ru |
dc.coverage.spatial | нанесение плазменных покрытий | ru |
dc.coverage.spatial | плазменное напыление | ru |
dc.coverage.spatial | пористость | ru |
dc.coverage.spatial | толщина покрытия | ru |
dc.creator | Василега А. В. | ru |
dc.date.accessioned | 2022-10-25 11:26:59 | - |
dc.date.available | 2022-10-25 11:26:59 | - |
dc.date.issued | 2022 | ru |
dc.identifier | RU\НТБ СГАУ\ВКР20220930161416 | ru |
dc.identifier.citation | Василега, А. В. Улучшение качества процесса исследования при нанесении плазменных покрытий за счет применения современных методов : вып. квалификац. работа по направлению подгот. 27.03.02 "Управление качеством" (уровень бакалавриата) / А. В. Василега ; рук. работы И. А. Докукина ; нормоконтролер В. Н. Самохвалов ; М-во науки и высш. образования Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т авиац. и. - Самара, 2022. - 1 файл (3,4 Мб). - Текст : электронный | ru |
dc.identifier.uri | http://repo.ssau.ru/handle/Vypusknye-kvalifikacionnye-raboty/Uluchshenie-kachestva-processa-issledovaniya-pri-nanesenii-plazmennyh-pokrytii-za-schet-primeneniya-sovremennyh-metodov-99805 | - |
dc.description.abstract | Объектом исследования являются методы измерения показателей качества плазменных покрытий. Целью дипломной работы является повышение точности измерений показателей качества плазменных покрытий за счет применения современных методов исследования.Задачи:1) Изучить показатели качества плазменных покрытий и методы их исследования2) Изучить современные методы исследования и возможность их использования для изучения свойств плазменных покрытий.3) Применить современные методы исследования плазменных покрытий с целью повышения точности процесса измерений | ru |
dc.title | Улучшение качества процесса исследования при нанесении плазменных покрытий за счет применения современных методов | ru |
dc.type | Text | ru |
dc.subject.rugasnti | 55.22 | ru |
dc.subject.udc | 621.795 | ru |
dc.textpart | Магнитный толщиномер Константа К5 требуется для измерения толщины немагнитных проводящих и диэлектрических покрытий, нанесенных на ферромагнитную основу. Устройство основано на методах вихретоковой фазовой и импульсной индукции для получения первичной информации. Погрешность прибора составляет Т = 0…500 мкм не более ±(0,02Т + 1) мкм; в диапазоне Т > 500 мкм не более ±0,02Т мкм Образец покрытием измерили 10 раз вдоль поверхности и построили гисто... | - |
Располагается в коллекциях: | Выпускные квалификационные работы |
Файлы этого ресурса:
Файл | Размер | Формат | |
---|---|---|---|
Василега_Анастасия_Валерьевна_Улучшение_качества_процесса_исследования.pdf | 3.49 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать базовое описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.