Отрывок: С учетом проведенного анализа, экспериментальных исследований, включающих измерение параметров ТУ (/потр, t/вых, Xu, Дет) и результатов испытаний на безотказность в условиях повышенной и 55 пониженной температур, а также воздей...
Название : | Методика диагностического контроля качества микросхем 142ЕН5 |
Авторы/Редакторы : | Плотников, В.Б. Пиганов, М.Н. Жувак, А.И. |
Ключевые слова : | радиоэлектронные устройства диагностический неразрушающий контроль интегральные микросхемы 142ЕН5 |
Дата публикации : | 2000 |
Издательство : | СГАУ |
Библиографическое описание : | Плотников, В. Б. Методика диагностического контроля качества микросхем 142ЕН5 / В. Б. Плотников, М. Н. Пиганов, А. И. Жувак // Актуальные проблемы радиоэлектроники / Самар. гос. аэрокосм. ун-т; [под общ. ред. Ю. Ф. Широкова]. – Самара : СГАУ, 2000. – Вып. 3. – С. 52-57. |
URI (Унифицированный идентификатор ресурса) : | http://repo.ssau.ru/handle/Vestnik-SGAU-Aktualnye-problemy-radioelektroniki/Metodika-diagnosticheskogo-kontrolya-kachestva-mikroshem-142EN5-65256 |
Другие идентификаторы : | Dspace\SGAU\20170912\65256 |
Располагается в коллекциях: | Вестник СГАУ. Актуальные проблемы радиоэлектроники |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
apr_2000_11.pdf | Основная статья | 2.64 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать полное описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.