Отрывок: С учетом проведенного анализа, экспериментальных исследований, включающих измерение параметров ТУ (/потр, t/вых, Xu, Дет) и результатов испытаний на безотказность в условиях повышенной и 55 пониженной температур, а также воздей...
Полная запись метаданных
Поле DC Значение Язык
dc.contributor.authorПлотников, В.Б.-
dc.contributor.authorПиганов, М.Н.-
dc.contributor.authorЖувак, А.И.-
dc.date.accessioned2017-10-16 12:07:01-
dc.date.available2017-10-16 12:07:01-
dc.date.issued2000-
dc.identifierDspace\SGAU\20170912\65256ru
dc.identifier.citationПлотников, В. Б. Методика диагностического контроля качества микросхем 142ЕН5 / В. Б. Плотников, М. Н. Пиганов, А. И. Жувак // Актуальные проблемы радиоэлектроники / Самар. гос. аэрокосм. ун-т; [под общ. ред. Ю. Ф. Широкова]. – Самара : СГАУ, 2000. – Вып. 3. – С. 52-57.ru
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/handle/Vestnik-SGAU-Aktualnye-problemy-radioelektroniki/Metodika-diagnosticheskogo-kontrolya-kachestva-mikroshem-142EN5-65256-
dc.language.isorusru
dc.publisherСГАУru
dc.subjectрадиоэлектронные устройстваru
dc.subjectдиагностический неразрушающий контрольru
dc.subjectинтегральные микросхемы 142ЕН5ru
dc.titleМетодика диагностического контроля качества микросхем 142ЕН5ru
dc.typeArticleru
dc.textpartС учетом проведенного анализа, экспериментальных исследований, включающих измерение параметров ТУ (/потр, t/вых, Xu, Дет) и результатов испытаний на безотказность в условиях повышенной и 55 пониженной температур, а также воздей...-
Располагается в коллекциях: Вестник СГАУ. Актуальные проблемы радиоэлектроники

Файлы этого ресурса:
Файл Описание Размер Формат  
apr_2000_11.pdfОсновная статья2.64 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.