Отрывок: С учетом проведенного анализа, экспериментальных исследований, включающих измерение параметров ТУ (/потр, t/вых, Xu, Дет) и результатов испытаний на безотказность в условиях повышенной и 55 пониженной температур, а также воздей...
Название : Методика диагностического контроля качества микросхем 142ЕН5
Авторы/Редакторы : Плотников, В.Б.
Пиганов, М.Н.
Жувак, А.И.
Ключевые слова : радиоэлектронные устройства
диагностический неразрушающий контроль
интегральные микросхемы 142ЕН5
Дата публикации : 2000
Издательство : СГАУ
Библиографическое описание : Плотников, В. Б. Методика диагностического контроля качества микросхем 142ЕН5 / В. Б. Плотников, М. Н. Пиганов, А. И. Жувак // Актуальные проблемы радиоэлектроники / Самар. гос. аэрокосм. ун-т; [под общ. ред. Ю. Ф. Широкова]. – Самара : СГАУ, 2000. – Вып. 3. – С. 52-57.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса) : http://repo.ssau.ru/handle/Vestnik-SGAU-Aktualnye-problemy-radioelektroniki/Metodika-diagnosticheskogo-kontrolya-kachestva-mikroshem-142EN5-65256
Другие идентификаторы : Dspace\SGAU\20170912\65256
Располагается в коллекциях: Вестник СГАУ. Актуальные проблемы радиоэлектроники

Файлы этого ресурса:
Файл Описание Размер Формат  
apr_2000_11.pdfОсновная статья2.64 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать полное описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.