Отрывок: В ходе работы было проведено эллипсометрическое исследование пленки кремнезема, полученной золь-гель методом. Измерение однослойной модели проходило в режиме накопления, результаты получены в режиме подгонки. Так же провели измерения для чистого предметного стекла. Полученные в результате измерения данные вносились в...
Название : Эллипсометрическое исследование пленок наноструктурированной двуокиси кремния, полученных золь-гель методом
Авторы/Редакторы : Замалютдинов, А.И.
Габдрахманова, Л.Р.
Ключевые слова : наноструктурированным вещества
эллипсометрия
пленка кремнезема
золь-гель метод
Дата публикации : 2014
Издательство : Издательство Самарского научного центра РАН
Библиографическое описание : Перспективные информационные технологии (ПИТ 2014): труды Международной научно-технической конференции / под ред. С. А. Прохорова. – Самара: Издательство Самарского научного центра РАН, 2014. – с. 42-44
URI (Унифицированный идентификатор ресурса) : http://repo.ssau.ru/handle/Perspektivnye-informacionnye-tehnologii/Ellipsometricheskoe-issledovanie-plenok-nanostrukturirovannoi-dvuokisi-kremniya-poluchennyh-zolgel-metodom-61874
ISBN : 978-5-93424-704-2
Другие идентификаторы : Dspace\SGAU\20170127\61874
Располагается в коллекциях: Перспективные информационные технологии

Файлы этого ресурса:
Файл Описание Размер Формат  
pit_14_1_5_10.pdfОсновная статья358.44 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать полное описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.