Отрывок: В ходе работы было проведено эллипсометрическое исследование пленки кремнезема, полученной золь-гель методом. Измерение однослойной модели проходило в режиме накопления, результаты получены в режиме подгонки. Так же провели измерения для чистого предметного стекла. Полученные в результате измерения данные вносились в...
Полная запись метаданных
Поле DC Значение Язык
dc.contributor.authorЗамалютдинов, А.И.-
dc.contributor.authorГабдрахманова, Л.Р.-
dc.date.accessioned2017-01-27 16:24:39-
dc.date.available2017-01-27 16:24:39-
dc.date.issued2014-
dc.identifierDspace\SGAU\20170127\61874ru
dc.identifier.citationПерспективные информационные технологии (ПИТ 2014): труды Международной научно-технической конференции / под ред. С. А. Прохорова. – Самара: Издательство Самарского научного центра РАН, 2014. – с. 42-44ru
dc.identifier.isbn978-5-93424-704-2-
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/handle/Perspektivnye-informacionnye-tehnologii/Ellipsometricheskoe-issledovanie-plenok-nanostrukturirovannoi-dvuokisi-kremniya-poluchennyh-zolgel-metodom-61874-
dc.language.isorusru
dc.publisherИздательство Самарского научного центра РАНru
dc.subjectнаноструктурированным веществаru
dc.subjectэллипсометрияru
dc.subjectпленка кремнеземаru
dc.subjectзоль-гель методru
dc.titleЭллипсометрическое исследование пленок наноструктурированной двуокиси кремния, полученных золь-гель методомru
dc.typeArticleru
dc.textpartВ ходе работы было проведено эллипсометрическое исследование пленки кремнезема, полученной золь-гель методом. Измерение однослойной модели проходило в режиме накопления, результаты получены в режиме подгонки. Так же провели измерения для чистого предметного стекла. Полученные в результате измерения данные вносились в...-
Располагается в коллекциях: Перспективные информационные технологии

Файлы этого ресурса:
Файл Описание Размер Формат  
pit_14_1_5_10.pdfОсновная статья358.44 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.