Репозиторий Самарского университета
Отрывок: Соединением определённых выводов разъёма Х1 можно подать сигналы на вход D2. С выхода D2 сигнал напрямую возвращается на микросхему D5, где и происходит сравнение его с исходным тестовым вектором. В качестве примера рассмотрим передачу сигнала по второму каналу. Из микросхемы D5 сигнал поступает на вторую буферную микросхему D18. Выходы D18 имеют внешние выводы на разъёме X1. На этот же разъём выведены входные контакты микросхемы D2. Таки...
| Название : | Разработка кластерного теста для электронной платы с JTAG интерфейсом |
| Авторы/Редакторы : | Росляков, А.А. Мартынов, В.В. Лавров, А.Ю. |
| Ключевые слова : | метод граничного сканирования JTAG-интерфейс электронная плата кластерный тест |
| Дата публикации : | 2015 |
| Издательство : | Издательство СГАУ |
| Библиографическое описание : | XIII Королёвские чтения: Международная молодёжная научная конференция, Самара, 6-8 октября 2015 года: Тезисы докладов, T.2. Самара: Издательство СГАУ, 2015, с. 64-65 |
| URI (Унифицированный идентификатор ресурса) : | http://repo.ssau.ru/handle/Mezhdunarodnaya-molodezhnaya-nauchnaya-konferenciya-Korolevskie-chteniya/Razrabotka-klasternogo-testa-dlya-elektronnoi-platy-s-JTAG-interfeisom-62281 |
| ISBN : | 978-5-9905304-6-1 |
| Другие идентификаторы : | Dspace\SGAU\20170213\62281 |
| УДК: | 681.518.5 (045) |
| Располагается в коллекциях: | Королевские чтения |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 64-65.pdf | Основная статья | 384.34 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать полное описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.