Отрывок: То лщи на резистивного слоя с о с та в л я ­ ет 10— 25 мкм. Т а б . а н ц а 2 П ар а м е тр ы не которых р е з ис ти в ных с л о е в Металлическая основа состава пасты Параметры P d — Ag Ru I г Удельное поверхностное сопротивление, О м /П 1— 10G 1— 107 1 — 107 ТКС, 1 0 - 6/°С 200— 500! 100— 200 0— 100 В качестве наполнителей диэлект рич еских паст д л я к о н де н са ­ торов применя ют смеси кер амических м а те р и а ло в и флюсов, а т а к ­ ж е стекла ферроэлек трическ...
Название : Изучение технологии изготовления толстопленочных интегральных микросхем
Авторы/Редакторы : Дмитриев В. Д.
Пиганов М. Н.
Калугина Т. С.
Министерство высшего и среднего специального образования РСФСР
Куйбышевский авиационный институт им. С. П. Королева
Дата публикации : 1988
Библиографическое описание : Изучение технологии изготовления толстопленочных интегральных микросхем : [метод. указания к лаб. работе № 40]. - Текст : электронный / М-во высш. и сред. спец. образования РСФСР, Куйбышев. авиац. ин-т им. С. П. Королева ; [сост.: В. Д. Дмитриев, М. Н. Пиганов, Т. С. Кулагина]. - Куйбышев, 1988. - 1 файл (393,05 Кб)
Аннотация : В методических указаниях рассмотрены методы формирования рисунка толстых пленок, материалы для толстопленочных микросхем. Дано описание оборудования для получения толстых пленок, приведен порядок выполнения работы. Методические указания предназначены для студентов специальности 0705.
Гриф.
Используемые программы: Adobe Acrobat.
Труды сотрудников КуАИ (электрон. версия).
URI (Унифицированный идентификатор ресурса) : http://repo.ssau.ru/handle/Metodicheskie-izdaniya/Izuchenie-tehnologii-izgotovleniya-tolstoplenochnyh-integralnyh-mikroshem-93283
Другие идентификаторы : RU\НТБ СГАУ\470502
Ключевые слова: интегральные микросхемы
материалы
методические издания
оборудование для производства
рисунок толстых пленок
Располагается в коллекциях: Методические издания

Файлы этого ресурса:
Файл Размер Формат  
Дмитриев В.Д. Изучение 1988.pdf393.05 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать полное описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.