Отрывок: е . с £ = $ . Тогда Р а ’ т .е . величину р а можно непосредственно измерить. Измерение не представляет никаких трудностей, если выполняется закон Ома. Поверх­ ностное сопротивление f ia зависит от объемного удельного сопротив­ ления резистивного слоя и толщины пленки, т .е . Л = £ и измеряется в Ом или Ом/кв. 9 Обратимые изменения величины сопротивления ...
Название : Исследование электрофизических свойств пленочных структур
Авторы/Редакторы : Буренин П. В.
Волков А. В.
Министерство высшего и среднего специального образования РСФСР
Куйбышевский авиационный институт им. С. П. Королева
Дата публикации : 1983
Библиографическое описание : Исследование электрофизических свойств пленочных структур : метод. указания к лаб. работе № 3. - Текст : электронный / М-во высш. и сред. спец. образования РСФСР, Куйбышев. авиац. ин-т им. С. П. Королева ; [сост. П. В. Буренин, А. В. Волков]. - Куйбышев, 1983. - 1 файл (1,82 Мб)
Аннотация : Гриф.
Изучаются механизмы образования и роста пленок, проводится их классификация. Анализируются также электронные процессы в тонких пленках: механизмы переноса зарядов в структуре металл-диэлектрик-металл; зависимости удельного сопротивления и температурного коэффициента сопротивления от толщины резистивных пленок; типы поляризации и диэлектрические потери в диэлектрических пленках. Исследуется электрофизические параметры резистивных пленок, ВАХ МДМ структур и диэлектрические потери в тонкопленочных конденсаторах в зависимости от температуры и толщины пленок. Рекомендуется для студентов специальности 0701.
Используемые программы: Adobe Acrobat.
Труды сотрудников КуАИ (электрон. версия).
URI (Унифицированный идентификатор ресурса) : http://repo.ssau.ru/handle/Metodicheskie-izdaniya/Issledovanie-elektrofizicheskih-svoistv-plenochnyh-struktur-96381
Другие идентификаторы : RU\НТБ СГАУ\478038
Ключевые слова: диэлектрические пленки
методические издания
образование пленок
резистивные пленки
рост пленок
тонкопленочные конденсаторы (ТПК)
электронные процессы в тонких пленках
Располагается в коллекциях: Методические издания




Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.