Отрывок: В ходе исследования будем варьировать толщину металлического слоя от 10 нм до 30 нм с шагом в 1 нм. В таблице 3 приведена зависимость максимальной интенсивности Imax и ширины фокусного пятна по полуспаду интенсивности dFWHM от толщины металлического слоя. Отметим, что на поверхности элемента формируется область интенсивности с двумя пиками, расположенными близко друг к другу. В следствие этого, максимальная интенсивность излучения замерялась на расстоянии 150 ...
Название : Фокусировка лазерного излучения диэлектрическими микроцилиндрами круглого сечения с металлической оболочкой
Авторы/Редакторы : Козлова, Е.С.
Ключевые слова : поверхностный плазмон-поляритон
микроцилиндр
фокусировка
наноджет
Дата публикации : 2017
Издательство : Новая техника
Библиографическое описание : Козлова Е.С. Фокусировка лазерного излучения диэлектрическими микроцилиндрами круглого сечения с металлической оболочкой // Сборник трудов III международной конференции и молодежной школы «Информационные технологии и нанотехнологии» (ИТНТ-2017) - Самара: Новая техника, 2017. - С. 55-58.
Аннотация : Моделирование распространения TE-поляризованного излучения с длиной волны =532 нм через диэлектрический цилиндр радиуса 2,1749 из полиэстра с золотой оболочкой, толщиной 10 нм, с помощью метода конечных разностей, реализованного в COMSOL Myltiphysics, показало наличие узкого нанджета с максимальной интенсивностью в 6 раз превышающей интенсивность падающего излучения. Ширина и глубина наноджета по полуспаду интенсивности составили 0,39 и 0,72 соответственно.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса) : http://repo.ssau.ru/handle/Informacionnye-tehnologii-i-nanotehnologii/Fokusirovka-lazernogo-izlucheniya-dielektricheskimi-mikrocilindrami-kruglogo-secheniya-s-metallicheskoi-obolochkoi-63604
Другие идентификаторы : Dspace\SGAU\20170504\63604
Располагается в коллекциях: Информационные технологии и нанотехнологии

Файлы этого ресурса:
Файл Описание Размер Формат  
paper 14_55-58.pdfОсновная статья. Раздел: Компьютерная оптика и нанофотоника755.75 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.