Отрывок: 75 ivjrp Rh Рис. 4.1. Установка для измерения ВАХ МДП-структур: Б5-30 - блок питания, В7-26-электронный вольтметр, МДП - исследуемая МДП-структура, R H - сопротивление нагрузки, ЭД-0.5М - электрометр. Типичные ВАХ структур Al/Sc20 3/Si, A l/Sc20 3/S i0 2/Si, Al/Gd20 3/Si и Al/Gd20 3/S i0 2/Si представлены на рис. 4.2-4.5. Как видно из рисунков, ВАХ исследуемых структур практически симметричны. Вид ВАХ всех исследованных структур качественн...
Название : | Свойства пленочных микро-и наноструктур с диэлектрическими слоями на основе оксидов редкоземельных элементов |
Авторы/Редакторы : | Гурьянов А. М. Самарский государственный университет |
Ключевые слова : | Физико-математические науки |
Дата публикации : | 2006 |
Библиографическое описание : | Гурьянов, А. М. Свойства пленочных микро-и наноструктур с диэлектрическими слоями на основе оксидов редкоземельных элементов : дис. .. канд. физ.-мат. наук : 01.04.10 : защищена 31.05.06 / Гурьянов Александр Михайлович ; Самар. гос. ун-т. - Самара, 2006. - 1 файл (3,65 Мб). - Текст : электронный |
URI (Унифицированный идентификатор ресурса) : | http://repo.ssau.ru/handle/Dissertacii-Zakryto/Svoistva-plenochnyh-mikroi-nanostruktur-s-dielektricheskimi-sloyami-na-osnove-oksidov-redkozemelnyh-elementov-97993 |
Другие идентификаторы : | RU\НТБ СГАУ\483303 |
Ключевые слова: | авторефераты диссертации диэлектрики пленочные микроструктуры пленочные наноструктуры редкоземельные элементы |
Располагается в коллекциях: | Диссертации (Закрыто) |
Файлы этого ресурса:
Файл | Размер | Формат | |
---|---|---|---|
Гурьянов А.М. Свойства 2006.pdf | 3.74 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать полное описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.