Отрывок: 75 ivjrp Rh Рис. 4.1. Установка для измерения ВАХ МДП-структур: Б5-30 - блок питания, В7-26-электронный вольтметр, МДП - исследуемая МДП-структура, R H - сопротивление нагрузки, ЭД-0.5М - электрометр. Типичные ВАХ структур Al/Sc20 3/Si, A l/Sc20 3/S i0 2/Si, Al/Gd20 3/Si и Al/Gd20 3/S i0 2/Si представлены на рис. 4.2-4.5. Как видно из рисунков, ВАХ исследуемых структур практически симметричны. Вид ВАХ всех исследованных структур качественн...
Название : Свойства пленочных микро-и наноструктур с диэлектрическими слоями на основе оксидов редкоземельных элементов
Авторы/Редакторы : Гурьянов А. М.
Самарский государственный университет
Ключевые слова : Физико-математические науки
Дата публикации : 2006
Библиографическое описание : Гурьянов, А. М. Свойства пленочных микро-и наноструктур с диэлектрическими слоями на основе оксидов редкоземельных элементов : дис. .. канд. физ.-мат. наук : 01.04.10 : защищена 31.05.06 / Гурьянов Александр Михайлович ; Самар. гос. ун-т. - Самара, 2006. - 1 файл (3,65 Мб). - Текст : электронный
URI (Унифицированный идентификатор ресурса) : http://repo.ssau.ru/handle/Dissertacii-Zakryto/Svoistva-plenochnyh-mikroi-nanostruktur-s-dielektricheskimi-sloyami-na-osnove-oksidov-redkozemelnyh-elementov-97993
Другие идентификаторы : RU\НТБ СГАУ\483303
Ключевые слова: авторефераты
диссертации
диэлектрики
пленочные микроструктуры
пленочные наноструктуры
редкоземельные элементы
Располагается в коллекциях: Диссертации (Закрыто)

Файлы этого ресурса:
Файл Размер Формат  
Гурьянов А.М. Свойства 2006.pdf3.74 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть  



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.