Отрывок: Обозначим эту ширину через αλ. Однако если ширина изоляционного зазора окажется несколько меньше αλ, то на большой длине совместной границы могут проявляться отдельные, наиболее «крупные» дефекты. Число таких дефектов на единицу длины λ совместной границы обозначим через λ деф/см. Очевидно, что при дальнейшем уменьшении 137 ширины зазора погонное число недопусти...
Название : Оценка вероятности выхода годных плат с комплексами однотипных фрагментов элементов
Авторы/Редакторы : Мелешенко, Д.Ю.
Ключевые слова : Дефекты
Оценка вероятности
Дата публикации : Апр-2020
Издательство : ООО «Вектор»
Библиографическое описание : Мелешенко, Д.Ю. Оценка вероятности выхода годных плат с комплексами однотипных фрагментов элементов / Д.Ю. Мелешенко // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций: материалы Всероссийской научно-технической конференции (г. Самара, 21-23 апреля 2020 г.) / Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева, под. ред. А. И. Данилина - Самара : ООО «Вектор», 2020. – С. 136-137.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса) : http://repo.ssau.ru/handle/Aktualnye-problemy-radioelektroniki-i-telekommunikacii/Ocenka-veroyatnosti-vyhoda-godnyh-plat-s-kompleksami-odnotipnyh-fragmentov-elementov-85435
ISBN : 978-5-6043616-3-4
Другие идентификаторы : Dspace\SGAU\20200827\85435
УДК: 621.382
533.9
Располагается в коллекциях: Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций

Файлы этого ресурса:
Файл Описание Размер Формат  
136-137.pdfОценка вероятности выхода годных плат с комплексами однотипных фрагментов элементов272.39 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать полное описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.