Отрывок: Обозначим эту ширину через αλ. Однако если ширина изоляционного зазора окажется несколько меньше αλ, то на большой длине совместной границы могут проявляться отдельные, наиболее «крупные» дефекты. Число таких дефектов на единицу длины λ совместной границы обозначим через λ деф/см. Очевидно, что при дальнейшем уменьшении 137 ширины зазора погонное число недопусти...
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Мелешенко, Д.Ю. | - |
dc.date.accessioned | 2020-08-31 12:44:46 | - |
dc.date.available | 2020-08-31 12:44:46 | - |
dc.date.issued | 2020-04 | - |
dc.identifier | Dspace\SGAU\20200827\85435 | ru |
dc.identifier.citation | Мелешенко, Д.Ю. Оценка вероятности выхода годных плат с комплексами однотипных фрагментов элементов / Д.Ю. Мелешенко // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций: материалы Всероссийской научно-технической конференции (г. Самара, 21-23 апреля 2020 г.) / Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева, под. ред. А. И. Данилина - Самара : ООО «Вектор», 2020. – С. 136-137. | ru |
dc.identifier.isbn | 978-5-6043616-3-4 | - |
dc.identifier.uri | http://repo.ssau.ru/handle/Aktualnye-problemy-radioelektroniki-i-telekommunikacii/Ocenka-veroyatnosti-vyhoda-godnyh-plat-s-kompleksami-odnotipnyh-fragmentov-elementov-85435 | - |
dc.language.iso | rus | ru |
dc.publisher | ООО «Вектор» | ru |
dc.subject | Дефекты | ru |
dc.subject | Оценка вероятности | ru |
dc.title | Оценка вероятности выхода годных плат с комплексами однотипных фрагментов элементов | ru |
dc.type | Thesis | ru |
dc.textpart | Обозначим эту ширину через αλ. Однако если ширина изоляционного зазора окажется несколько меньше αλ, то на большой длине совместной границы могут проявляться отдельные, наиболее «крупные» дефекты. Число таких дефектов на единицу длины λ совместной границы обозначим через λ деф/см. Очевидно, что при дальнейшем уменьшении 137 ширины зазора погонное число недопусти... | - |
dc.classindex.udc | 621.382 | - |
dc.classindex.udc | 533.9 | - |
Располагается в коллекциях: | Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
136-137.pdf | Оценка вероятности выхода годных плат с комплексами однотипных фрагментов элементов | 272.39 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать базовое описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.