Отрывок: Выделенные в работе дефекты структуры представляют собой кольцевые области разрыва металлизации, расположенные на границе сфероидного образования и участков платы с незакристаллизован ной стеклофазой. По результатам электронно-микроскопического и микрозондового исследования структурных дефектов получено соотношение, позволяющее использовать результаты в системе г^ежоперационног...
Название : Контроль спаев металлокерамических плат и корпусов микросхем в условиях массового производства
Авторы/Редакторы : Михеева Е. В.
Дата публикации : 2004
Библиографическое описание : Михеева, Е. В. Контроль спаев металлокерамических плат и корпусов микросхем в условиях массового производства. - Текст : электронный / Е. В. Михеева // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф., 31 мая - 4 июня 2004 г. - Текст : электронный / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева ; [под ред. И. Г. Мироненко, М. Н. Пиганова]. - 2004. - С. 55-56
URI (Унифицированный идентификатор ресурса) : http://repo.ssau.ru/handle/Aktualnye-problemy-radioelektroniki-i-telekommunikacii/Kontrol-spaev-metallokeramicheskih-plat-i-korpusov-mikroshem-v-usloviyah-massovogo-proizvodstva-92575
Другие идентификаторы : RU\НТБ СГАУ\469515
Ключевые слова: поуровневые ранжирования
погрешность оценки
параметры качества
платы
обработка
натекания герметизирующих спаев
незакристаллизованные стеклофазы
аналитическая модель
вероятности
дефекты
границы
коэффициенты Спирмена
массовое производство
металлизация
межоперационный контроль
металлокерамические платы
микросхемы
микрозондовые исследования
информативные признаки
заготовки
контактные площадки
контроль
коэффициенты Кендалла
корпуса
корпусы
кольцевые области разрыва
эмпирические коэффициенты
электронно-микроскопические
функционально-диагностические модели
шероховатости
экспертные оценки
топологии
упрочнения
сфероидные кристаллизации стеклофаз
сквозные ранжирования
скол
скалывание
структурные образования
сравнительный анализ
спаи
спекание
регрессионная модель
ранговая корреляция
программно-следственные связи
причинно-следственные диаграммы
Располагается в коллекциях: Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций

Файлы этого ресурса:
Файл Размер Формат  
Стр.-55-56.pdf114.7 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать полное описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.