Отрывок: Выделенные в работе дефекты структуры представляют собой кольцевые области разрыва металлизации, расположенные на границе сфероидного образования и участков платы с незакристаллизован ной стеклофазой. По результатам электронно-микроскопического и микрозондового исследования структурных дефектов получено соотношение, позволяющее использовать результаты в системе г^ежоперационног...
Полная запись метаданных
Поле DC Значение Язык
dc.contributor.authorМихеева Е. В.ru
dc.coverage.spatialпоуровневые ранжированияru
dc.coverage.spatialпогрешность оценкиru
dc.coverage.spatialпараметры качестваru
dc.coverage.spatialплатыru
dc.coverage.spatialобработкаru
dc.coverage.spatialнатекания герметизирующих спаевru
dc.coverage.spatialнезакристаллизованные стеклофазыru
dc.coverage.spatialаналитическая модельru
dc.coverage.spatialвероятностиru
dc.coverage.spatialдефектыru
dc.coverage.spatialграницыru
dc.coverage.spatialкоэффициенты Спирменаru
dc.coverage.spatialмассовое производствоru
dc.coverage.spatialметаллизацияru
dc.coverage.spatialмежоперационный контрольru
dc.coverage.spatialметаллокерамические платыru
dc.coverage.spatialмикросхемыru
dc.coverage.spatialмикрозондовые исследованияru
dc.coverage.spatialинформативные признакиru
dc.coverage.spatialзаготовкиru
dc.coverage.spatialконтактные площадкиru
dc.coverage.spatialконтрольru
dc.coverage.spatialкоэффициенты Кендаллаru
dc.coverage.spatialкорпусаru
dc.coverage.spatialкорпусыru
dc.coverage.spatialкольцевые области разрываru
dc.coverage.spatialэмпирические коэффициентыru
dc.coverage.spatialэлектронно-микроскопическиеru
dc.coverage.spatialфункционально-диагностические моделиru
dc.coverage.spatialшероховатостиru
dc.coverage.spatialэкспертные оценкиru
dc.coverage.spatialтопологииru
dc.coverage.spatialупрочненияru
dc.coverage.spatialсфероидные кристаллизации стеклофазru
dc.coverage.spatialсквозные ранжированияru
dc.coverage.spatialсколru
dc.coverage.spatialскалываниеru
dc.coverage.spatialструктурные образованияru
dc.coverage.spatialсравнительный анализru
dc.coverage.spatialспаиru
dc.coverage.spatialспеканиеru
dc.coverage.spatialрегрессионная модельru
dc.coverage.spatialранговая корреляцияru
dc.coverage.spatialпрограммно-следственные связиru
dc.coverage.spatialпричинно-следственные диаграммыru
dc.creatorМихеева Е. В.ru
dc.date.accessioned2021-10-26 14:21:01-
dc.date.available2021-10-26 14:21:01-
dc.date.issued2004ru
dc.identifierRU\НТБ СГАУ\469515ru
dc.identifier.citationМихеева, Е. В. Контроль спаев металлокерамических плат и корпусов микросхем в условиях массового производства. - Текст : электронный / Е. В. Михеева // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф., 31 мая - 4 июня 2004 г. - Текст : электронный / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева ; [под ред. И. Г. Мироненко, М. Н. Пиганова]. - 2004. - С. 55-56ru
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/handle/Aktualnye-problemy-radioelektroniki-i-telekommunikacii/Kontrol-spaev-metallokeramicheskih-plat-i-korpusov-mikroshem-v-usloviyah-massovogo-proizvodstva-92575-
dc.language.isorusru
dc.sourceАктуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф., 31 мая - 4 июня 2004 г. - Текст : электронныйru
dc.titleКонтроль спаев металлокерамических плат и корпусов микросхем в условиях массового производстваru
dc.typeTextru
dc.citation.epage56ru
dc.citation.spage55ru
dc.textpartВыделенные в работе дефекты структуры представляют собой кольцевые области разрыва металлизации, расположенные на границе сфероидного образования и участков платы с незакристаллизован ной стеклофазой. По результатам электронно-микроскопического и микрозондового исследования структурных дефектов получено соотношение, позволяющее использовать результаты в системе г^ежоперационног...-
Располагается в коллекциях: Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций

Файлы этого ресурса:
Файл Размер Формат  
Стр.-55-56.pdf114.7 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.