Отрывок: Отсутствие знания таких закономерностей не позволяет 166 обеспечить стабильную работу ЭСиУ при различных условиях ее эксплуатации. Методы диагностирования полупроводниковых приборов, базирующиеся на анализе явлений на макроуровне и калибровке их по эталонным образцам, не позволяют, не только достоверно прогнозировать параметрическую надежность диагностируемых приборов, но даже верно определить диапазон применимости этого явления для диагностирования и делает невозмож...
Название : Интегральная оценка качества биполярных структур в динамическом режиме питания
Авторы/Редакторы : Чернобровин, Н.Г.
Ключевые слова : надежность
транзистор
структура
диагностика
Дата публикации : Апр-2020
Издательство : ООО «Вектор»
Библиографическое описание : Чернобровин, Н.Г. Интегральная оценка качества биполярных структур в динамическом режиме питания / Н.Г. Чернобровин // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций: материалы Всероссийской научно-технической конференции (г. Самара, 21-23 апреля 2020 г.) / Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева, под. ред. А. И. Данилина - Самара : ООО «Вектор», 2020. – С. 165-166.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса) : http://repo.ssau.ru/handle/Aktualnye-problemy-radioelektroniki-i-telekommunikacii/Integralnaya-ocenka-kachestva-bipolyarnyh-struktur-v-dinamicheskom-rezhime-pitaniya-85472
ISBN : 978-5-6043616-3-4
Другие идентификаторы : Dspace\SGAU\20200831\85472
УДК: 621.382
Располагается в коллекциях: Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций

Файлы этого ресурса:
Файл Описание Размер Формат  
165-166.pdfИнтегральная оценка качества биполярных структур в динамическом режиме питания205.7 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать полное описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.