Отрывок: Отсутствие знания таких закономерностей не позволяет 166 обеспечить стабильную работу ЭСиУ при различных условиях ее эксплуатации. Методы диагностирования полупроводниковых приборов, базирующиеся на анализе явлений на макроуровне и калибровке их по эталонным образцам, не позволяют, не только достоверно прогнозировать параметрическую надежность диагностируемых приборов, но даже верно определить диапазон применимости этого явления для диагностирования и делает невозмож...
Полная запись метаданных
Поле DC Значение Язык
dc.contributor.authorЧернобровин, Н.Г.-
dc.date.accessioned2020-09-01 11:09:24-
dc.date.available2020-09-01 11:09:24-
dc.date.issued2020-04-
dc.identifierDspace\SGAU\20200831\85472ru
dc.identifier.citationЧернобровин, Н.Г. Интегральная оценка качества биполярных структур в динамическом режиме питания / Н.Г. Чернобровин // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций: материалы Всероссийской научно-технической конференции (г. Самара, 21-23 апреля 2020 г.) / Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева, под. ред. А. И. Данилина - Самара : ООО «Вектор», 2020. – С. 165-166.ru
dc.identifier.isbn978-5-6043616-3-4-
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/handle/Aktualnye-problemy-radioelektroniki-i-telekommunikacii/Integralnaya-ocenka-kachestva-bipolyarnyh-struktur-v-dinamicheskom-rezhime-pitaniya-85472-
dc.language.isorusru
dc.publisherООО «Вектор»ru
dc.subjectнадежностьru
dc.subjectтранзисторru
dc.subjectструктураru
dc.subjectдиагностикаru
dc.titleИнтегральная оценка качества биполярных структур в динамическом режиме питанияru
dc.typeThesisru
dc.textpartОтсутствие знания таких закономерностей не позволяет 166 обеспечить стабильную работу ЭСиУ при различных условиях ее эксплуатации. Методы диагностирования полупроводниковых приборов, базирующиеся на анализе явлений на макроуровне и калибровке их по эталонным образцам, не позволяют, не только достоверно прогнозировать параметрическую надежность диагностируемых приборов, но даже верно определить диапазон применимости этого явления для диагностирования и делает невозмож...-
dc.classindex.udc621.382-
Располагается в коллекциях: Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций

Файлы этого ресурса:
Файл Описание Размер Формат  
165-166.pdfИнтегральная оценка качества биполярных структур в динамическом режиме питания205.7 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.