Отрывок: д. При высоком качестве производства эта нестабильность удерживается в пределах, делающих невозможным значительное ухудшение характеристик изделия. Понижение же качества, наоборот, может привнести повышенную нестабильность или дефекты, которые м...
Название : Анализ надежности паяного соединения электронного узла
Авторы/Редакторы : Тресков, Б.А.
Ключевые слова : Паяльное соединение
Надежность
Дата публикации : Апр-2020
Издательство : ООО «Вектор»
Библиографическое описание : Тресков, Б.А. Анализ надежности паяного соединения электронного узла / Б.А. Тресков // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций: материалы Всероссийской научно-технической конференции (г. Самара, 21-23 апреля 2020 г.) / Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева, под. ред. А. И. Данилина - Самара : ООО «Вектор», 2020. – С. 150-152.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса) : http://repo.ssau.ru/handle/Aktualnye-problemy-radioelektroniki-i-telekommunikacii/Analiz-nadezhnosti-payanogo-soedineniya-elektronnogo-uzla-85462
ISBN : 978-5-6043616-3-4
Другие идентификаторы : Dspace\SGAU\20200831\85462
УДК: 621.396
533.9
Располагается в коллекциях: Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций

Файлы этого ресурса:
Файл Описание Размер Формат  
150-152.pdfАнализ надежности паяного соединения электронного узла301.17 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.