Отрывок: д. При высоком качестве производства эта нестабильность удерживается в пределах, делающих невозможным значительное ухудшение характеристик изделия. Понижение же качества, наоборот, может привнести повышенную нестабильность или дефекты, которые м...
Полная запись метаданных
Поле DC Значение Язык
dc.contributor.authorТресков, Б.А.-
dc.date.accessioned2020-09-01 11:08:31-
dc.date.available2020-09-01 11:08:31-
dc.date.issued2020-04-
dc.identifierDspace\SGAU\20200831\85462ru
dc.identifier.citationТресков, Б.А. Анализ надежности паяного соединения электронного узла / Б.А. Тресков // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций: материалы Всероссийской научно-технической конференции (г. Самара, 21-23 апреля 2020 г.) / Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева, под. ред. А. И. Данилина - Самара : ООО «Вектор», 2020. – С. 150-152.ru
dc.identifier.isbn978-5-6043616-3-4-
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/handle/Aktualnye-problemy-radioelektroniki-i-telekommunikacii/Analiz-nadezhnosti-payanogo-soedineniya-elektronnogo-uzla-85462-
dc.language.isorusru
dc.publisherООО «Вектор»ru
dc.subjectПаяльное соединениеru
dc.subjectНадежностьru
dc.titleАнализ надежности паяного соединения электронного узлаru
dc.typeThesisru
dc.textpartд. При высоком качестве производства эта нестабильность удерживается в пределах, делающих невозможным значительное ухудшение характеристик изделия. Понижение же качества, наоборот, может привнести повышенную нестабильность или дефекты, которые м...-
dc.classindex.udc621.396-
dc.classindex.udc533.9-
Располагается в коллекциях: Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций

Файлы этого ресурса:
Файл Описание Размер Формат  
150-152.pdfАнализ надежности паяного соединения электронного узла301.17 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.