Отрывок: Основная задача второго этапа – удалить интерференцию деталей. Интерференция наблюдается по следующим причинам: - ошибки сборки исходной модели; - ошибки в сопряжении электронных компонентов с платами; - ошибки в отверстиях плат. Модель, полученная во втором этапе, не имеет интерфер...
Название : Прочностной расчёт наноспутника
Авторы/Редакторы : Ломака, И.А.
Устюгов, Е.В.
Симаков, С.П.
Фадеенков, П.В.
Ключевые слова : наноспутник
упрощённая цифровая модель
конечно-элементная модель
прочностный анализ конструкции
интерференция деталей
Дата публикации : 2015
Издательство : Издательство СГАУ
Библиографическое описание : XIII Королёвские чтения: Международная молодёжная научная конференция, Самара, 6-8 октября 2015 года: Тезисы докладов, T.1. Самара: Издательство СГАУ, 2015, с. 68
URI (Унифицированный идентификатор ресурса) : http://repo.ssau.ru/handle/Mezhdunarodnaya-molodezhnaya-nauchnaya-konferenciya-Korolevskie-chteniya/Prochnostnoi-raschet-nanosputnika-61047
ISBN : 978-5-9905304-6-1
Другие идентификаторы : Dspace\SGAU\20161229\61047
УДК: 629.78
Располагается в коллекциях: Королевские чтения

Файлы этого ресурса:
Файл Описание Размер Формат  
68.pdfОсновная статья345.61 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать полное описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.