Отрывок: Основная задача второго этапа – удалить интерференцию деталей. Интерференция наблюдается по следующим причинам: - ошибки сборки исходной модели; - ошибки в сопряжении электронных компонентов с платами; - ошибки в отверстиях плат. Модель, полученная во втором этапе, не имеет интерфер...
Полная запись метаданных
Поле DC Значение Язык
dc.contributor.authorЛомака, И.А.-
dc.contributor.authorУстюгов, Е.В.-
dc.contributor.authorСимаков, С.П.-
dc.contributor.authorФадеенков, П.В.-
dc.date.accessioned2016-12-29 10:25:44-
dc.date.available2016-12-29 10:25:44-
dc.date.issued2015-
dc.identifierDspace\SGAU\20161229\61047ru
dc.identifier.citationXIII Королёвские чтения: Международная молодёжная научная конференция, Самара, 6-8 октября 2015 года: Тезисы докладов, T.1. Самара: Издательство СГАУ, 2015, с. 68ru
dc.identifier.isbn978-5-9905304-6-1-
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/handle/Mezhdunarodnaya-molodezhnaya-nauchnaya-konferenciya-Korolevskie-chteniya/Prochnostnoi-raschet-nanosputnika-61047-
dc.language.isorusru
dc.publisherИздательство СГАУru
dc.subjectнаноспутникru
dc.subjectупрощённая цифровая модельru
dc.subjectконечно-элементная модельru
dc.subjectпрочностный анализ конструкцииru
dc.subjectинтерференция деталейru
dc.titleПрочностной расчёт наноспутникаru
dc.typeArticleru
dc.textpartОсновная задача второго этапа – удалить интерференцию деталей. Интерференция наблюдается по следующим причинам: - ошибки сборки исходной модели; - ошибки в сопряжении электронных компонентов с платами; - ошибки в отверстиях плат. Модель, полученная во втором этапе, не имеет интерфер...-
dc.classindex.udc629.78-
Располагается в коллекциях: Королевские чтения

Файлы этого ресурса:
Файл Описание Размер Формат  
68.pdfОсновная статья345.61 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.