Поиск


Текущие фильтры:
Начать новый поиск
Добавить фильтры:

Используйте фильтры для уточнения результатов поиска.

 | 
Результаты 1751-1760 из 6013.
Найденные ресурсы:
Год издания Название Автор(ы)
2004Метод диагностирования БМК по температурным режимамЦирлов А. М.
2004Индивидуальное прогнозирование параметров элементов и компонентов микросборокКарпов О. В.
2004Управление качеством космических РЭСПиганов М. Н.; Тюлевин С. В.; Бураков А. В.
2004Моделирование процесса ионно-лучевой обработки cтруктуры металл-кремний и ее электронного энергетического строенияОстапенко Н. А.
2004Анализ качества технологического процесса производства микросборокВасильчук А. В.; Пиганов М. Н.; Баталова А. М.
2004Контроль качества полупроводниковых микросхем по тепловым характеристикамПиганов М. Н.; Тюлевин С. В.; Бураков А. В.
2004Электрофизическая диагностика микросхем КМОП—типаАрхипов А. В.; Пиганов М. Н.; Тюлевин С. В.
2004Технологические проблемы проектирования интеллектуальных датчиковНестеров В. Н.; Баталова А. М.
2004Повышение стабильности факельно—дугового разряда при обработке микросборокПиганов М. Н.; Столбиков А. В.; Баталова А. М.
2004Некоторые направления повышения надежности элементной базы и аппаратуры космических РЭСТюлевин С. В.; Пиганов М. Н.; Горчаков Е. Г.

Просмотр