Отрывок: Ɉɫɨɛɟɧɧɨ ɹɜɧɨ ɷɬɨ ɢɦɟɟɬ ɦɟɫɬɨ ɩɪɢ ɨɛɪɚɬɧɨɣ ɡɚɜɢɫɢɦɨɫɬɢ ɗɉ ɨɬ ɏɎ, ɜ ɱɚɫɬɧɨɫɬɢ ɜ ɩɥɟɧɨɱɧɵɯ ɩɪɨɜɨɞɧɢɤɚɯ ɢ ɪɟɡɢɫɬɨɪɚɯ, ɨɫɧɨɜɧɵɦ ɗɉ ɤɨɬɨɪɵɯ ɹɜɥɹɟɬɫɹ ɨɦɢɱɟɫɤɨɟ ɫɨɩɪɨɬɢɜɥɟɧɢɟ. Ɉɦɢɱɟɫɤɨɟ ɫɨɩɪɨɬɢɜɥɟɧɢɟ ɩɥɟɧɨɱɧɨɝɨ ɩɪɨɜɨɞɧɢɤɚ ɢɥɢ ɪɟɡɢɫɬɨɪɚ ɨɩɪɟɞɟɥɹɟɬɫɹ ɢɡɜɟɫɬɧɵɦ ɜɵɪɚɠɟɧɢɟɦ. ɜ ɤɨɬɨɪɨɦ ɫɨɩɪɨɬɢɜɥɟɧɢɟ ɤɜɚɞɪɚɬɚ ɢ ɞɥɢɧɚ ɪɟɡɢɫɬɨɪɚ ɢɡɦɟɧɹɸɬ ɫɨɩɪɨɬɢɜɥɟɧɢɟ ɩɪɹɦɨ ɩɪɨɩɨɪɰɢɨɧɚɥɶɧɨ ɢɡɦɟɧɟɧɢɸ ɫɜɨɢɯ...
Название : Методика оценки погрешности электрических параметров комплексов пленочных пассивных элементов микросхем
Авторы/Редакторы : Мелешенко Д. Ю.
Пиганов М. Н.
Министерство образования и науки Российской Федерации
Самарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет)
Институт информатики
математики и электроники
Дата публикации : 2018
Библиографическое описание : Мелешенко, Д. Ю. Методика оценки погрешности электрических параметров комплексов пленочных пассивных элементов микросхем : вып. квалификац. работа по спец. "Конструирование и технология электронных средств" / Д. Ю. Мелешенко ; рук. работы М. Н. Пиганов ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т информатики, математики и электроники, Фак-т элек. - Самаpа, 2018. - on-line
Другие идентификаторы : RU\НТБ СГАУ\ВКР20180724134304
Ключевые слова: математические методы оценки
пленочные пассивные элементы микросхем
погрешности
дефекты
электрические параметры
Располагается в коллекциях: Выпускные квалификационные работы

Файлы этого ресурса:
Файл Размер Формат  
Мелешенко_Дмитрий_Юрьевич_Методика_оценки_погрешности_электрических.pdf5.73 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть  
Показать полное описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.