Отрывок: Ɉɫɨɛɟɧɧɨ ɹɜɧɨ ɷɬɨ ɢɦɟɟɬ ɦɟɫɬɨ ɩɪɢ ɨɛɪɚɬɧɨɣ ɡɚɜɢɫɢɦɨɫɬɢ ɗɉ ɨɬ ɏɎ, ɜ ɱɚɫɬɧɨɫɬɢ ɜ ɩɥɟɧɨɱɧɵɯ ɩɪɨɜɨɞɧɢɤɚɯ ɢ ɪɟɡɢɫɬɨɪɚɯ, ɨɫɧɨɜɧɵɦ ɗɉ ɤɨɬɨɪɵɯ ɹɜɥɹɟɬɫɹ ɨɦɢɱɟɫɤɨɟ ɫɨɩɪɨɬɢɜɥɟɧɢɟ. Ɉɦɢɱɟɫɤɨɟ ɫɨɩɪɨɬɢɜɥɟɧɢɟ ɩɥɟɧɨɱɧɨɝɨ ɩɪɨɜɨɞɧɢɤɚ ɢɥɢ ɪɟɡɢɫɬɨɪɚ ɨɩɪɟɞɟɥɹɟɬɫɹ ɢɡɜɟɫɬɧɵɦ ɜɵɪɚɠɟɧɢɟɦ. ɜ ɤɨɬɨɪɨɦ ɫɨɩɪɨɬɢɜɥɟɧɢɟ ɤɜɚɞɪɚɬɚ ɢ ɞɥɢɧɚ ɪɟɡɢɫɬɨɪɚ ɢɡɦɟɧɹɸɬ ɫɨɩɪɨɬɢɜɥɟɧɢɟ ɩɪɹɦɨ ɩɪɨɩɨɪɰɢɨɧɚɥɶɧɨ ɢɡɦɟɧɟɧɢɸ ɫɜɨɢɯ...
Полная запись метаданных
Поле DC Значение Язык
dc.contributor.authorМелешенко Д. Ю.ru
dc.contributor.authorПиганов М. Н.ru
dc.contributor.authorМинистерство образования и науки Российской Федерацииru
dc.contributor.authorСамарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет)ru
dc.contributor.authorИнститут информатикиru
dc.contributor.authorматематики и электроникиru
dc.coverage.spatialматематические методы оценкиru
dc.coverage.spatialпленочные пассивные элементы микросхемru
dc.coverage.spatialпогрешностиru
dc.coverage.spatialдефектыru
dc.coverage.spatialэлектрические параметрыru
dc.creatorМелешенко Д. Ю.ru
dc.date.issued2018ru
dc.identifierRU\НТБ СГАУ\ВКР20180724134304ru
dc.identifier.citationМелешенко, Д. Ю. Методика оценки погрешности электрических параметров комплексов пленочных пассивных элементов микросхем : вып. квалификац. работа по спец. "Конструирование и технология электронных средств" / Д. Ю. Мелешенко ; рук. работы М. Н. Пиганов ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т информатики, математики и электроники, Фак-т элек. - Самаpа, 2018. - on-lineru
dc.format.extentЭлектрон. дан. (1 файл : 5,6 Мб)ru
dc.titleМетодика оценки погрешности электрических параметров комплексов пленочных пассивных элементов микросхемru
dc.typeTextru
dc.subject.rugasnti47.59.49ru
dc.subject.udc621.396ru
dc.textpartɈɫɨɛɟɧɧɨ ɹɜɧɨ ɷɬɨ ɢɦɟɟɬ ɦɟɫɬɨ ɩɪɢ ɨɛɪɚɬɧɨɣ ɡɚɜɢɫɢɦɨɫɬɢ ɗɉ ɨɬ ɏɎ, ɜ ɱɚɫɬɧɨɫɬɢ ɜ ɩɥɟɧɨɱɧɵɯ ɩɪɨɜɨɞɧɢɤɚɯ ɢ ɪɟɡɢɫɬɨɪɚɯ, ɨɫɧɨɜɧɵɦ ɗɉ ɤɨɬɨɪɵɯ ɹɜɥɹɟɬɫɹ ɨɦɢɱɟɫɤɨɟ ɫɨɩɪɨɬɢɜɥɟɧɢɟ. Ɉɦɢɱɟɫɤɨɟ ɫɨɩɪɨɬɢɜɥɟɧɢɟ ɩɥɟɧɨɱɧɨɝɨ ɩɪɨɜɨɞɧɢɤɚ ɢɥɢ ɪɟɡɢɫɬɨɪɚ ɨɩɪɟɞɟɥɹɟɬɫɹ ɢɡɜɟɫɬɧɵɦ ɜɵɪɚɠɟɧɢɟɦ. ɜ ɤɨɬɨɪɨɦ ɫɨɩɪɨɬɢɜɥɟɧɢɟ ɤɜɚɞɪɚɬɚ ɢ ɞɥɢɧɚ ɪɟɡɢɫɬɨɪɚ ɢɡɦɟɧɹɸɬ ɫɨɩɪɨɬɢɜɥɟɧɢɟ ɩɪɹɦɨ ɩɪɨɩɨɪɰɢɨɧɚɥɶɧɨ ɢɡɦɟɧɟɧɢɸ ɫɜɨɢɯ...-
Располагается в коллекциях: Выпускные квалификационные работы

Файлы этого ресурса:
Файл Размер Формат  
Мелешенко_Дмитрий_Юрьевич_Методика_оценки_погрешности_электрических.pdf5.73 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть  
Показать базовое описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.