Отрывок: Измерение толщины одноосного кристалла, производится с помощью фиксации поперечного распределения интенсивности выходного пучка видеокамерой, после чего полученное изображение сравнивается с таблицей эталлонов на основе математической модели распространения пучков Бесселя в одноосном кристалле [12]. 19 2.2 Математические основы метода измерения Для расчёта поперечного распределения интенсивности пучка Бесселя на выходе Z-среза одноосного к...
Название : Метод измерения толщины одноосных кристаллов ниобата лития ориентации <001>
Авторы/Редакторы : Литвинов А. Ю.
Паранин В. Д.
Бабаев О. А.
Министерство образования и науки Российской Федерации
Самарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет)
Институт информатики
математики и электроники
Дата публикации : 2018
Библиографическое описание : Литвинов, А. Ю. Метод измерения толщины одноосных кристаллов ниобата лития ориентации <001> : вып. квалификац. работа по спец. "Электроника и наноэлектроника" / А. Ю. Литвинов ; рук. работы В. Д. Паранин; рец. О. А. Бабаев ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т информатики, математики и элект. - Самара, 2018. - on-line
Аннотация : Объектом исследования является дифракционно-поляризационныйметод измерения толщины одноосных кристаллов ориентации <001>.Цель работы: развитие методических основ измерения толщиныодноосных кристаллов ориентации <001> на основе преобразования пучкаБесс
Другие идентификаторы : RU\НТБ СГАУ\ВКР20180717131834
Ключевые слова: ниобат лития
пучок Бесселя
дифракционный аксикон
метод измерения толщины
одноосные кристаллы
оптическая ось
Располагается в коллекциях: Выпускные квалификационные работы

Файлы этого ресурса:
Файл Размер Формат  
Литвинов_Алексей_Юрьевич_Метод_измерения_толщины_одноосных.pdf1.49 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть  
Показать полное описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.