Отрывок: Измерение толщины одноосного кристалла, производится с помощью фиксации поперечного распределения интенсивности выходного пучка видеокамерой, после чего полученное изображение сравнивается с таблицей эталлонов на основе математической модели распространения пучков Бесселя в одноосном кристалле [12]. 19 2.2 Математические основы метода измерения Для расчёта поперечного распределения интенсивности пучка Бесселя на выходе Z-среза одноосного к...
Полная запись метаданных
Поле DC Значение Язык
dc.contributor.authorЛитвинов А. Ю.ru
dc.contributor.authorПаранин В. Д.ru
dc.contributor.authorБабаев О. А.ru
dc.contributor.authorМинистерство образования и науки Российской Федерацииru
dc.contributor.authorСамарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет)ru
dc.contributor.authorИнститут информатикиru
dc.contributor.authorматематики и электроникиru
dc.coverage.spatialниобат литияru
dc.coverage.spatialпучок Бесселяru
dc.coverage.spatialдифракционный аксиконru
dc.coverage.spatialметод измерения толщиныru
dc.coverage.spatialодноосные кристаллыru
dc.coverage.spatialоптическая осьru
dc.creatorЛитвинов А. Ю.ru
dc.date.issued2018ru
dc.identifierRU\НТБ СГАУ\ВКР20180717131834ru
dc.identifier.citationЛитвинов, А. Ю. Метод измерения толщины одноосных кристаллов ниобата лития ориентации <001> : вып. квалификац. работа по спец. "Электроника и наноэлектроника" / А. Ю. Литвинов ; рук. работы В. Д. Паранин; рец. О. А. Бабаев ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т информатики, математики и элект. - Самара, 2018. - on-lineru
dc.description.abstractОбъектом исследования является дифракционно-поляризационныйметод измерения толщины одноосных кристаллов ориентации <001>.Цель работы: развитие методических основ измерения толщиныодноосных кристаллов ориентации <001> на основе преобразования пучкаБессru
dc.format.extentЭлектрон. дан. (1 файл : 1,5 Мб)ru
dc.titleМетод измерения толщины одноосных кристаллов ниобата лития ориентации <001>ru
dc.typeTextru
dc.subject.rugasnti29.31ru
dc.subject.udc535.42ru
dc.textpartИзмерение толщины одноосного кристалла, производится с помощью фиксации поперечного распределения интенсивности выходного пучка видеокамерой, после чего полученное изображение сравнивается с таблицей эталлонов на основе математической модели распространения пучков Бесселя в одноосном кристалле [12]. 19 2.2 Математические основы метода измерения Для расчёта поперечного распределения интенсивности пучка Бесселя на выходе Z-среза одноосного к...-
Располагается в коллекциях: Выпускные квалификационные работы

Файлы этого ресурса:
Файл Размер Формат  
Литвинов_Алексей_Юрьевич_Метод_измерения_толщины_одноосных.pdf1.49 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть  
Показать базовое описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.