Репозиторий Самарского университета

Отрывок: Такие контакты не искажают линии тока в образце и за счет большой площади имеют малое сопротивление, что способствует уменьшению уровня шума контактов. Наличие нескольких боковых отростков позволяет одновременно с ЭДС Холла измерять удельное сопротивление образца. ЭДС Холла и, соответственно, коэффициент Холла можно измерить четырьмя различными способами, используя постоянный или переменный ток, а также постоянное или переменное магнитное поле. Испо...

Название :	Электрофизические и оптические свойства тонких пленок полупроводникового карбида кремния на поликристаллических и монокристаллических подложках, полученных мето
Авторы/Редакторы :	Голубева Д. Ю. Щербак А. В. Самарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет)
Дата публикации :	2017
Библиографическое описание :	Голубева, Д. Ю. Электрофизические и оптические свойства тонких пленок полупроводникового карбида кремния на поликристаллических и монокристаллических подложках, полученных методом магнетронного распыления : на правах рукоп.: магистер. дис. / Голубева Диана Юрьевна ; рук. работы А. В. Щербак ; Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т). - Самара, 2017. - on-line
Другие идентификаторы :	RU\НТБ СГАУ\ВКР20190419163302
Ключевые слова:	рентгенофазовый анализ жидкофазная эпитаксия метод магнетронного распыления методы измерения удельного сопротивления монокристаллические подложки оптические параметры полупроводников оптические свойства карбид кремния эндотаксия электрофизические свойства спектральный анализ способы получения карбида кремния газофазная эпитаксия поликристаллические подложки полупроводниковый карбид кремния сублимационная эпитаксия
Располагается в коллекциях:	Выпускные квалификационные работы

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.