Отрывок: Такие контакты не искажают линии тока в образце и за счет большой площади имеют малое сопротивление, что способствует уменьшению уровня шума контактов. Наличие нескольких боковых отростков позволяет одновременно с ЭДС Холла измерять удельное сопротивление образца. ЭДС Холла и, соответственно, коэффициент Холла можно измерить четырьмя различными способами, используя постоянный или переменный ток, а также постоянное или переменное магнитное поле. Испо...
Полная запись метаданных
Поле DC Значение Язык
dc.contributor.authorГолубева Д. Ю.ru
dc.contributor.authorЩербак А. В.ru
dc.contributor.authorСамарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет)ru
dc.coverage.spatialрентгенофазовый анализru
dc.coverage.spatialжидкофазная эпитаксияru
dc.coverage.spatialметод магнетронного распыленияru
dc.coverage.spatialметоды измерения удельного сопротивленияru
dc.coverage.spatialмонокристаллические подложкиru
dc.coverage.spatialоптические параметры полупроводниковru
dc.coverage.spatialоптические свойстваru
dc.coverage.spatialкарбид кремнияru
dc.coverage.spatialэндотаксияru
dc.coverage.spatialэлектрофизические свойстваru
dc.coverage.spatialспектральный анализru
dc.coverage.spatialспособы получения карбида кремнияru
dc.coverage.spatialгазофазная эпитаксияru
dc.coverage.spatialполикристаллические подложкиru
dc.coverage.spatialполупроводниковый карбид кремнияru
dc.coverage.spatialсублимационная эпитаксияru
dc.creatorГолубева Д. Ю.ru
dc.date.issued2017ru
dc.identifierRU\НТБ СГАУ\ВКР20190419163302ru
dc.identifier.citationГолубева, Д. Ю. Электрофизические и оптические свойства тонких пленок полупроводникового карбида кремния на поликристаллических и монокристаллических подложках, полученных методом магнетронного распыления : на правах рукоп.: магистер. дис. / Голубева Диана Юрьевна ; рук. работы А. В. Щербак ; Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т). - Самара, 2017. - on-lineru
dc.format.extentЭлектрон. дан. (1 файл : 2,1 Мб)ru
dc.titleЭлектрофизические и оптические свойства тонких пленок полупроводникового карбида кремния на поликристаллических и монокристаллических подложках, полученных метоru
dc.typeTextru
dc.subject.rugasnti55.22ru
dc.subject.udc621.382ru
dc.subject.udc621.793.7ru
dc.textpartТакие контакты не искажают линии тока в образце и за счет большой площади имеют малое сопротивление, что способствует уменьшению уровня шума контактов. Наличие нескольких боковых отростков позволяет одновременно с ЭДС Холла измерять удельное сопротивление образца. ЭДС Холла и, соответственно, коэффициент Холла можно измерить четырьмя различными способами, используя постоянный или переменный ток, а также постоянное или переменное магнитное поле. Испо...-
Располагается в коллекциях: Выпускные квалификационные работы

Файлы этого ресурса:
Файл Размер Формат  
Голубева_Диана_Юрьевна_ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИЕ_ОПТИЧЕСКИЕ_СВОЙСТВА.pdf2.14 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть  
Показать базовое описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.