Отрывок: Все микроскопы серии EVO в своей конструкции используют передовые технологии TTL и BeamSleeve, что позволяет получать изображения высокого качества в режиме переменного давления. Диапазон увеличений микроскопа от 10 до 1 000 000 крат, что примерно в 500 раз превышает предел увеличения лучших оптических микроскопов при высокой глубине резкости. Микроскоп снабжен детектором X-Max80 микроэлементного анализа фирмы Oxford Instruments (Великобритания). Микроскоп позволяет...
Название : Диффузионные структуры на основе пористого кремния легированного РЗЭ
Авторы/Редакторы : Кирсанов Н. Ю.
Латухина Н. В.
старший н. с.
П.В. Казакевича к. ф.
Самарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет)
Дата публикации : 2017
Библиографическое описание : Кирсанов, Н. Ю. Диффузионные структуры на основе пористого кремния легированного РЗЭ : вып. квалификац. работа [магистра по направлению "Физика"] / Н. Ю. Кирсанов ; науч. рук. работы Н. В. Латухина ; Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Физ. фак-т, Каф. радиофизики, полупроводниковой микро- и наноэлектроники. - Самара, 2017. - on-line
Другие идентификаторы : RU\НТБ СГАУ\ВКР20190419163035
Ключевые слова: модель диффузии эрбия
светоизлучающие приборы
стандартные кремниевые технологии интегральных схем
электрофизические свойства ПК
спектры фотолюминесценции
пористый кремний
полупроводниковая оптоэлектроника
легированный эрбий
Располагается в коллекциях: Выпускные квалификационные работы

Файлы этого ресурса:
Файл Размер Формат  
Кирсанов_Николай_Юрьевич_ДИФФУЗИОННЫЕ_СТРУКТУРЫ_ОСНОВЕ.pdf2 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть  
Показать полное описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.