Отрывок: Все микроскопы серии EVO в своей конструкции используют передовые технологии TTL и BeamSleeve, что позволяет получать изображения высокого качества в режиме переменного давления. Диапазон увеличений микроскопа от 10 до 1 000 000 крат, что примерно в 500 раз превышает предел увеличения лучших оптических микроскопов при высокой глубине резкости. Микроскоп снабжен детектором X-Max80 микроэлементного анализа фирмы Oxford Instruments (Великобритания). Микроскоп позволяет...
Полная запись метаданных
Поле DC Значение Язык
dc.contributor.authorКирсанов Н. Ю.ru
dc.contributor.authorЛатухина Н. В.ru
dc.contributor.authorстарший н. с.ru
dc.contributor.authorП.В. Казакевича к. ф.ru
dc.contributor.authorСамарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет)ru
dc.coverage.spatialмодель диффузии эрбияru
dc.coverage.spatialсветоизлучающие приборыru
dc.coverage.spatialстандартные кремниевые технологии интегральных схемru
dc.coverage.spatialэлектрофизические свойства ПКru
dc.coverage.spatialспектры фотолюминесценцииru
dc.coverage.spatialпористый кремнийru
dc.coverage.spatialполупроводниковая оптоэлектроникаru
dc.coverage.spatialлегированный эрбийru
dc.creatorКирсанов Н. Ю.ru
dc.date.issued2017ru
dc.identifierRU\НТБ СГАУ\ВКР20190419163035ru
dc.identifier.citationКирсанов, Н. Ю. Диффузионные структуры на основе пористого кремния легированного РЗЭ : вып. квалификац. работа [магистра по направлению "Физика"] / Н. Ю. Кирсанов ; науч. рук. работы Н. В. Латухина ; Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Физ. фак-т, Каф. радиофизики, полупроводниковой микро- и наноэлектроники. - Самара, 2017. - on-lineru
dc.format.extentЭлектрон. дан. (1 файл : 2,0 Мб)ru
dc.titleДиффузионные структуры на основе пористого кремния легированного РЗЭru
dc.typeTextru
dc.subject.rugasnti47.29.31ru
dc.subject.udc621.383ru
dc.subject.udc539.1ru
dc.textpartВсе микроскопы серии EVO в своей конструкции используют передовые технологии TTL и BeamSleeve, что позволяет получать изображения высокого качества в режиме переменного давления. Диапазон увеличений микроскопа от 10 до 1 000 000 крат, что примерно в 500 раз превышает предел увеличения лучших оптических микроскопов при высокой глубине резкости. Микроскоп снабжен детектором X-Max80 микроэлементного анализа фирмы Oxford Instruments (Великобритания). Микроскоп позволяет...-
Располагается в коллекциях: Выпускные квалификационные работы

Файлы этого ресурса:
Файл Размер Формат  
Кирсанов_Николай_Юрьевич_ДИФФУЗИОННЫЕ_СТРУКТУРЫ_ОСНОВЕ.pdf2 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть  
Показать базовое описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.