Отрывок: На этом принципе основан ме­ тод контроля приборов по т - характеристикам. Согласно этому методу ток контролируется в 17 дискретных точках в следующих поддиапазонах (рис.2): I (малые токи): к г 10 -ИСГ7А, П (средние токи): 3 • 10-7 * 10-4 А, Ш (большие токи): 3 • 10 4 %■ 10-2 А. По результатам измерений строятся т - характеристики и сравнива­ ются с идеализированной характеристикой (рис 1). согласно которой у совершенной полупроводниковой кремниевой структуры в поддиапазоне 1 коэф...
Название : Контроль полупроводниковых диодов по m-параметру
Авторы/Редакторы : Карпин, А.Н.
Пиганов, М.Н.
Бабин, С.А.
Ключевые слова : контроль диодов
m-параметр вольтамперной характеристики
Дата публикации : 1999
Издательство : СГАУ
Библиографическое описание : Карпин, А. Н. Контроль полупроводниковых диодов по m-параметру / А. Н. Карпин, М. Н. Пиганов, С. А. Бабин // Актуальные проблемы радиоэлектроники / Самар. гос. аэрокосм. ун-т; [под общ. ред. Ю. Ф. Широкова]. – Самара : СГАУ, 1999. – Вып. 2. – С. 58-62.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса) : http://repo.ssau.ru/handle/Vestnik-SGAU-Aktualnye-problemy-radioelektroniki/Kontrol-poluprovodnikovyh-diodov-po-mparametru-65230
Другие идентификаторы : Dspace\SGAU\20170911\65230
Располагается в коллекциях: Вестник СГАУ. Актуальные проблемы радиоэлектроники

Файлы этого ресурса:
Файл Описание Размер Формат  
apr_1999_14.pdfОсновная статья1.77 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.