Отрывок: Уровень отбраковки U wo определялся путем вероятностно- статистической обработки результатов измерения зависимости U ш — /< ? « * > Д™ данной выборки, состоящей из п - диодов. В нашем случае п=100. Среднее значение напряжения шума определялось по формуле: П 7 7 ЦГ-X^f- i=l п где Uaj- значение шумового напряжения / - го диода при определенном обратном напряжении. * Дисперсия шума определялась по выражению: п - 1 Среднек...
Название : Контроль качества полупроводниковых диодов по напряжению шума
Авторы/Редакторы : Васильев, В.А.
Пиганов, М.Н.
Зайцев, В.Ю.
Ключевые слова : низкочастотные шумы
методика контроля качества и отбраковки диодов
Дата публикации : 1999
Издательство : СГАУ
Библиографическое описание : Васильев, В. А. Контроль качества полупроводниковых диодов по напряжению шума / В. А. Васильев, М. Н. Пиганов, В. Ю. Зайцев // Актуальные проблемы радиоэлектроники / Самар. гос. аэрокосм. ун-т; [под общ. ред. Ю. Ф. Широкова]. – Самара : СГАУ, 1999. – Вып. 2. – С. 63-65.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса) : http://repo.ssau.ru/handle/Vestnik-SGAU-Aktualnye-problemy-radioelektroniki/Kontrol-kachestva-poluprovodnikovyh-diodov-po-napryazheniu-shuma-65231
Другие идентификаторы : Dspace\SGAU\20170911\65231
Располагается в коллекциях: Вестник СГАУ. Актуальные проблемы радиоэлектроники

Файлы этого ресурса:
Файл Описание Размер Формат  
apr_1999_15.pdfОсновная статья1.44 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать полное описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.