Отрывок: Уровень отбраковки U wo определялся путем вероятностно- статистической обработки результатов измерения зависимости U ш — /< ? « * > Д™ данной выборки, состоящей из п - диодов. В нашем случае п=100. Среднее значение напряжения шума определялось по формуле: П 7 7 ЦГ-X^f- i=l п где Uaj- значение шумового напряжения / - го диода при определенном обратном напряжении. * Дисперсия шума определялась по выражению: п - 1 Среднек...
Название : | Контроль качества полупроводниковых диодов по напряжению шума |
Авторы/Редакторы : | Васильев, В.А. Пиганов, М.Н. Зайцев, В.Ю. |
Ключевые слова : | низкочастотные шумы методика контроля качества и отбраковки диодов |
Дата публикации : | 1999 |
Издательство : | СГАУ |
Библиографическое описание : | Васильев, В. А. Контроль качества полупроводниковых диодов по напряжению шума / В. А. Васильев, М. Н. Пиганов, В. Ю. Зайцев // Актуальные проблемы радиоэлектроники / Самар. гос. аэрокосм. ун-т; [под общ. ред. Ю. Ф. Широкова]. – Самара : СГАУ, 1999. – Вып. 2. – С. 63-65. |
URI (Унифицированный идентификатор ресурса) : | http://repo.ssau.ru/handle/Vestnik-SGAU-Aktualnye-problemy-radioelektroniki/Kontrol-kachestva-poluprovodnikovyh-diodov-po-napryazheniu-shuma-65231 |
Другие идентификаторы : | Dspace\SGAU\20170911\65231 |
Располагается в коллекциях: | Вестник СГАУ. Актуальные проблемы радиоэлектроники |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
apr_1999_15.pdf | Основная статья | 1.44 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать полное описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.