Отрывок: В соответствии с чем, для увеличения производительности процесса контроля радиоэлементов, и уменьшения времени контроля целесообразно проектировать именно приставку к компьютеру, подключаемую через внешний порт, а не отдельное самостоятельное устройство. Это обусловлено наличием в стандартном комплекте IBM- совместимого компьютера многих компонент, необходимых для решения данной задачи (микропроцессора, составляющего основу компьютера; ж...
Название : Устройство контроля качества полупроводниковых приборов
Авторы/Редакторы : Мангилев И. С.
Дмитриев В. Д.
Скворцов Б. В.
Министерство образования и науки Российской Федерации
Самарский государственный аэрокосмический университет им. С. П. Королева (национальный исследовательский университет) (СГАУ)
Институт электроники и приборостроения
Дата публикации : 2016
Библиографическое описание : Мангилев, И. С. Устройство контроля качества полупроводниковых приборов : вып. квалификац. работа по специальности "Проектирование и технология радиоэлектрон. средств" / И. С. Мангилев ; рук. работы В. Д. Дмитриев ; рец. Б. В. Скворцов ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева (нац. исслед. ун-т) (СГАУ), Ин-т электроники. - Самара, 2016. - on-line
Аннотация : В дипломном проекте разработана конструкция автоматизированной установки контроля качества диодов. В работе представлены конструкторские и технологические расчеты, расчет надежности устройства и экономический расчет, рассмотрены вопросы охраны труда, прив
Другие идентификаторы : RU\НТБ СГАУ\ВКР20160418144356
Ключевые слова: контроль качества приборов
полупроводниковые приборы
автоматизированная установка
экономический эффект
себестоимость
Располагается в коллекциях: Выпускные квалификационные работы




Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.