Отрывок: В соответствии с чем, для увеличения производительности процесса контроля радиоэлементов, и уменьшения времени контроля целесообразно проектировать именно приставку к компьютеру, подключаемую через внешний порт, а не отдельное самостоятельное устройство. Это обусловлено наличием в стандартном комплекте IBM- совместимого компьютера многих компонент, необходимых для решения данной задачи (микропроцессора, составляющего основу компьютера; ж...
Полная запись метаданных
Поле DC Значение Язык
dc.contributor.authorМангилев И. С.ru
dc.contributor.authorДмитриев В. Д.ru
dc.contributor.authorСкворцов Б. В.ru
dc.contributor.authorМинистерство образования и науки Российской Федерацииru
dc.contributor.authorСамарский государственный аэрокосмический университет им. С. П. Королева (национальный исследовательский университет) (СГАУ)ru
dc.contributor.authorИнститут электроники и приборостроенияru
dc.coverage.spatialконтроль качества приборовru
dc.coverage.spatialполупроводниковые приборыru
dc.coverage.spatialавтоматизированная установкаru
dc.coverage.spatialэкономический эффектru
dc.coverage.spatialсебестоимостьru
dc.creatorМангилев И. С.ru
dc.date.issued2016ru
dc.identifierRU\НТБ СГАУ\ВКР20160418144356ru
dc.identifier.citationМангилев, И. С. Устройство контроля качества полупроводниковых приборов : вып. квалификац. работа по специальности "Проектирование и технология радиоэлектрон. средств" / И. С. Мангилев ; рук. работы В. Д. Дмитриев ; рец. Б. В. Скворцов ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева (нац. исслед. ун-т) (СГАУ), Ин-т электроники. - Самара, 2016. - on-lineru
dc.description.abstractВ дипломном проекте разработана конструкция автоматизированной установки контроля качества диодов. В работе представлены конструкторские и технологические расчеты, расчет надежности устройства и экономический расчет, рассмотрены вопросы охраны труда, привru
dc.format.extentЭлектрон. дан. (1 файл : 1,0 Мб)ru
dc.titleУстройство контроля качества полупроводниковых приборовru
dc.typeTextru
dc.subject.rugasnti47.03ru
dc.subject.udc621.382ru
dc.textpartВ соответствии с чем, для увеличения производительности процесса контроля радиоэлементов, и уменьшения времени контроля целесообразно проектировать именно приставку к компьютеру, подключаемую через внешний порт, а не отдельное самостоятельное устройство. Это обусловлено наличием в стандартном комплекте IBM- совместимого компьютера многих компонент, необходимых для решения данной задачи (микропроцессора, составляющего основу компьютера; ж...-
Располагается в коллекциях: Выпускные квалификационные работы

Файлы этого ресурса:
Файл Размер Формат  
Мангилев_Устройство_контроля_качества_полупроводниковых.pdf987.03 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть  
Показать базовое описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.