Отрывок: Поэтому априорные способы оценки надёжности ИМС как на стадии проектирования при выборе оптимального конструктивного варианта, структуры, принципиальной схемы, так и на стадии производства, с целью получения уточненных сведений о будущей эксплуатационной надёжности микросхем. 22 5 . 2 П р о г н о з и р о в а н и е н а д ё ж н о с т и И М С о т м и р о в ы х п р о и з в о д и т е л е й В данном разделе я бы хотел рассмотреть оценку надёжности, которую предоставл...
Название : Прогнозирование надежности интегральных микросхем по конструктивно- технологическим параметрам
Авторы/Редакторы : Столбинский Д. В.
Пиганов М. Н.
Полулех А. В.
Самарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет)
Дата публикации : 2017
Библиографическое описание : Столбинский, Д. В. Прогнозирование надежности интегральных микросхем по конструктивно- технологическим параметрам : вып. квалификац. работа по спец. "Конструирование и технология электронных средств" / Д. В. Столбинский ; рук. работы М. Н. Пиганов; рец. А. В. Полулех ; Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Фак-т электроники и приборостроения, Каф. конструирования и технологии эл. - Самара, 2017. - on-line
Аннотация : Рассмотрены и проанализированы существующие методы прогнозирования надежности РЭА. Выбранна методика для выпускной квалификационной работе. Произведен расчет выбраных интегральных микросхем по методике прогнозирования, которую предлагает справочник "Надежность ЭРИ", с помощью программы АСРН.
Другие идентификаторы : RU\НТБ СГАУ\ВКР20180206151713
Ключевые слова: математические модели
прогнозирование надежности
интегральные микросхемы
HDBK- 217F
методика расчета
Располагается в коллекциях: Выпускные квалификационные работы




Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.