Отрывок: Поэтому априорные способы оценки надёжности ИМС как на стадии проектирования при выборе оптимального конструктивного варианта, структуры, принципиальной схемы, так и на стадии производства, с целью получения уточненных сведений о будущей эксплуатационной надёжности микросхем. 22 5 . 2 П р о г н о з и р о в а н и е н а д ё ж н о с т и И М С о т м и р о в ы х п р о и з в о д и т е л е й В данном разделе я бы хотел рассмотреть оценку надёжности, которую предоставл...
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Столбинский Д. В. | ru |
dc.contributor.author | Пиганов М. Н. | ru |
dc.contributor.author | Полулех А. В. | ru |
dc.contributor.author | Самарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет) | ru |
dc.coverage.spatial | математические модели | ru |
dc.coverage.spatial | прогнозирование надежности | ru |
dc.coverage.spatial | интегральные микросхемы | ru |
dc.coverage.spatial | HDBK- 217F | ru |
dc.coverage.spatial | методика расчета | ru |
dc.creator | Столбинский Д. В. | ru |
dc.date.issued | 2017 | ru |
dc.identifier | RU\НТБ СГАУ\ВКР20180206151713 | ru |
dc.identifier.citation | Столбинский, Д. В. Прогнозирование надежности интегральных микросхем по конструктивно- технологическим параметрам : вып. квалификац. работа по спец. "Конструирование и технология электронных средств" / Д. В. Столбинский ; рук. работы М. Н. Пиганов; рец. А. В. Полулех ; Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Фак-т электроники и приборостроения, Каф. конструирования и технологии эл. - Самара, 2017. - on-line | ru |
dc.description.abstract | Рассмотрены и проанализированы существующие методы прогнозирования надежности РЭА. Выбранна методика для выпускной квалификационной работе. Произведен расчет выбраных интегральных микросхем по методике прогнозирования, которую предлагает справочник "Надежность ЭРИ", с помощью программы АСРН. | ru |
dc.format.extent | Электрон. дан. (1 файл : 2,6 Мб) | ru |
dc.title | Прогнозирование надежности интегральных микросхем по конструктивно- технологическим параметрам | ru |
dc.type | Text | ru |
dc.subject.rugasnti | 47.03.05 | ru |
dc.subject.udc | 621.382.049 | ru |
dc.textpart | Поэтому априорные способы оценки надёжности ИМС как на стадии проектирования при выборе оптимального конструктивного варианта, структуры, принципиальной схемы, так и на стадии производства, с целью получения уточненных сведений о будущей эксплуатационной надёжности микросхем. 22 5 . 2 П р о г н о з и р о в а н и е н а д ё ж н о с т и И М С о т м и р о в ы х п р о и з в о д и т е л е й В данном разделе я бы хотел рассмотреть оценку надёжности, которую предоставл... | - |
Располагается в коллекциях: | Выпускные квалификационные работы |
Файлы этого ресурса:
Файл | Размер | Формат | |
---|---|---|---|
Столбинский_Денис_Владимирович_Прогнозирование_надёжности_интегральных_микросхем.pdf | 2.7 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать базовое описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.