Отрывок: Помимо заложенных расчетных параметров, острота и глубина фокусировки, а также энергетическая эффективность в различных порядках дифракции зависят от качества изготовления оптического элемента. В связи с этим возникает потребность в диагностике микрорельефа ДОЭ, в частности, измерения площади характерных дефектов поверхности. Контролировать качество изготовления ДОЭ можно, проверяя соблюдение ширины отдельных зон Френеля, геометрии их границ и размеры микро...
Название : Лабораторный практикум по курсу "Основы теорииэксперимента" для студентов направления "Электроника и наноэлектроника" : вып. квалификац. работа по спец. "Электроника и наноэлектроника"
Авторы/Редакторы : Евсеев И. В.
Меженин А. В.
Гришанов В. Д.
Министерство образования и науки Российской Федерации
Самарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет)
Институт информатики
математики и электроники
Дата публикации : 2017
Библиографическое описание : Евсеев, И. В. Лабораторный практикум по курсу "Основы теорииэксперимента" для студентов направления "Электроника и наноэлектроника" : вып. квалификац. работа по спец. "Электроника и наноэлектроника" / И. В. Евсеев ; рук. работы А. В. Меженин; рец. В. Д. Гришанов ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т информатики, математики и элект. - Самара, 2017. - on-line
Аннотация : В настоящей работе проводится создание ряда лабораторных работ, позволяющих студентам направления «Электроника и наноэлектроника» получить знания и практические навыки в области эмпирических методов научного исследования. Цель работы – создание цикла лабо
Другие идентификаторы : RU\НТБ СГАУ\ВКР20171215101050
Ключевые слова: газовые лазеры
дифракционные оптические элементы
дифракция
интерференция
лазерные диоды
мощность излучения
мультиметры
наноразмерные структуры
электрическое сопротивление
электронный растровый микроскоп
Располагается в коллекциях: Выпускные квалификационные работы




Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.