Отрывок: Помимо заложенных расчетных параметров, острота и глубина фокусировки, а также энергетическая эффективность в различных порядках дифракции зависят от качества изготовления оптического элемента. В связи с этим возникает потребность в диагностике микрорельефа ДОЭ, в частности, измерения площади характерных дефектов поверхности. Контролировать качество изготовления ДОЭ можно, проверяя соблюдение ширины отдельных зон Френеля, геометрии их границ и размеры микро...
Полная запись метаданных
Поле DC Значение Язык
dc.contributor.authorЕвсеев И. В.ru
dc.contributor.authorМеженин А. В.ru
dc.contributor.authorГришанов В. Д.ru
dc.contributor.authorМинистерство образования и науки Российской Федерацииru
dc.contributor.authorСамарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет)ru
dc.contributor.authorИнститут информатикиru
dc.contributor.authorматематики и электроникиru
dc.coverage.spatialмощность излученияru
dc.coverage.spatialмультиметрыru
dc.coverage.spatialинтерференцияru
dc.coverage.spatialнаноразмерные структурыru
dc.coverage.spatialэлектронный растровый микроскопru
dc.coverage.spatialэлектрическое сопротивлениеru
dc.coverage.spatialлазерные диодыru
dc.coverage.spatialгазовые лазерыru
dc.coverage.spatialдифракционные оптические элементыru
dc.coverage.spatialдифракцияru
dc.creatorЕвсеев И. В.ru
dc.date.issued2017ru
dc.identifierRU\НТБ СГАУ\ВКР20171215101050ru
dc.identifier.citationЕвсеев, И. В. Лабораторный практикум по курсу "Основы теорииэксперимента" для студентов направления "Электроника и наноэлектроника" : вып. квалификац. работа по спец. "Электроника и наноэлектроника" / И. В. Евсеев ; рук. работы А. В. Меженин; рец. В. Д. Гришанов ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т информатики, математики и элект. - Самара, 2017. - on-lineru
dc.description.abstractВ настоящей работе проводится создание ряда лабораторных работ, позволяющих студентам направления «Электроника и наноэлектроника» получить знания и практические навыки в области эмпирических методов научного исследования. Цель работы – создание цикла лабораторных и практических занятий, позволяющих студентам направления «Электроника и наноэлекроника» ознакомиться с курсом «Основы теории эксперимента». Создан ряд лабораторных стендов, позволяющих реализовать на практике такие методы эмпирического познания, как наблюдение, измерение и эксперимент. Разработаны методики, позволяющие ознакомиться с каждым из этих методов в процессе выполнения индивидуального задания. Предложена структура отчетов по лабораторным работам, позволяющая систематизировать результаты и закрепить полученные знания. Проведена апробация цикла практических занятий на тестовой группе студентов. Разработанный лабораторный практикум предполагается внедрить в программу курса «Основы теории эксперимента».ru
dc.format.extentЭлектрон. дан. (1 файл : 2,3 Мб)ru
dc.titleЛабораторный практикум по курсу "Основы теорииэксперимента" для студентов направления "Электроника и наноэлектроника"ru
dc.typeTextru
dc.subject.rugasnti47.59.49ru
dc.subject.udc621.38ru
dc.textpartПомимо заложенных расчетных параметров, острота и глубина фокусировки, а также энергетическая эффективность в различных порядках дифракции зависят от качества изготовления оптического элемента. В связи с этим возникает потребность в диагностике микрорельефа ДОЭ, в частности, измерения площади характерных дефектов поверхности. Контролировать качество изготовления ДОЭ можно, проверяя соблюдение ширины отдельных зон Френеля, геометрии их границ и размеры микро...-
Располагается в коллекциях: Выпускные квалификационные работы




Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.