Отрывок: Для повышения качества изображения необходимо подобрать оптимальные значения параметров. Для этого установим зависимость максимальной интен- сивности от выбранных параметров (рисунок 6). International Scientific Conference Proceedings, Volume 2 “Advanced Information Techno...
Название : | Моделирование электронных изображений кристаллических решеток методом многих слоёв |
Авторы/Редакторы : | Шабека, А.С. Куприянов, А.В. |
Ключевые слова : | Кристаллическая решётка изображения электронной микроскопии моделирование метод многих слоёв |
Дата публикации : | 2015 |
Издательство : | Издательство Самарского научного центра РАН |
Библиографическое описание : | Труды Международной научно-технической конференции. Т.2 / под ред. С.А. Прохорова. – Самара: Издательство Самарского научного центра РАН. 2015. – с. 330-334 |
URI (Унифицированный идентификатор ресурса) : | http://repo.ssau.ru/handle/Perspektivnye-informacionnye-tehnologii/Modelirovanie-elektronnyh-izobrazhenii-kristallicheskih-reshetok-metodom-mnogih-sloev-61842 |
ISBN : | 978-5-93424-735-6 |
Другие идентификаторы : | Dspace\SGAU\20170126\61842 |
Располагается в коллекциях: | Перспективные информационные технологии |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
pit_2015_p2_93.pdf | Основная статья | 448.84 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать полное описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.