Отрывок: Для повышения качества изображения необходимо подобрать оптимальные значения параметров. Для этого установим зависимость максимальной интен- сивности от выбранных параметров (рисунок 6). International Scientific Conference Proceedings, Volume 2 “Advanced Information Techno...
Название : Моделирование электронных изображений кристаллических решеток методом многих слоёв
Авторы/Редакторы : Шабека, А.С.
Куприянов, А.В.
Ключевые слова : Кристаллическая решётка
изображения электронной микроскопии
моделирование
метод многих слоёв
Дата публикации : 2015
Издательство : Издательство Самарского научного центра РАН
Библиографическое описание : Труды Международной научно-технической конференции. Т.2 / под ред. С.А. Прохорова. – Самара: Издательство Самарского научного центра РАН. 2015. – с. 330-334
URI (Унифицированный идентификатор ресурса) : http://repo.ssau.ru/handle/Perspektivnye-informacionnye-tehnologii/Modelirovanie-elektronnyh-izobrazhenii-kristallicheskih-reshetok-metodom-mnogih-sloev-61842
ISBN : 978-5-93424-735-6
Другие идентификаторы : Dspace\SGAU\20170126\61842
Располагается в коллекциях: Перспективные информационные технологии

Файлы этого ресурса:
Файл Описание Размер Формат  
pit_2015_p2_93.pdfОсновная статья448.84 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать полное описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.