Отрывок: При разработке методики ДНК ИМС 286ЕП были исследованы ВАХ при обратном смещении входных и выходных цепей составных транзисторов в пле­ чах мискросборки. Исследования показали, что наиболее значительной разброс значений токов утечки, обу...
Название : Методика диагностического контроля микросхем серии 286
Авторы/Редакторы : Баталова А. М.
Бекренев С. Н.
Пиганов М. Н.
Дата публикации : 2005
Библиографическое описание : Баталова, А. М. Методика диагностического контроля микросхем серии 286 / А. М. Баталова, С. Н. Бекренев ; науч. руководитель М. Н. Пиганов // VIII Королевские чтения: Всерос. молодежн. науч. конф. с междунар. участием, 4-6 окт. 2005 г. : сб. тр. / М-во образования и науки Рос. Федерации; Федер. агентство по образованию; Адм. Самар. обл.; Самар. науч. центр Рос. акад. наук; Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева; Гос. науч.-произв. ракет.- косм. центр "ЦСКБ - Прогресс"; ред. И. В. Белоконов. - Самаpа : СГАУ, 2005. - С. 240.
Другие идентификаторы : RU\НТБ СГАУ\458642
Ключевые слова: интегральные микросхемы
диагностический контроль микросхем
методика диагностического контроля
микросхемы серии 286
Располагается в коллекциях: Королевские чтения

Файлы этого ресурса:
Файл Размер Формат  
Стр. 240.pdf55.39 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать полное описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.