Отрывок: При разработке методики ДНК ИМС 286ЕП были исследованы ВАХ при обратном смещении входных и выходных цепей составных транзисторов в пле­ чах мискросборки. Исследования показали, что наиболее значительной разброс значений токов утечки, обу...
Полная запись метаданных
Поле DC Значение Язык
dc.contributor.authorБаталова А. М.ru
dc.contributor.authorБекренев С. Н.ru
dc.contributor.authorПиганов М. Н.ru
dc.coverage.spatialинтегральные микросхемыru
dc.coverage.spatialдиагностический контроль микросхемru
dc.coverage.spatialметодика диагностического контроляru
dc.coverage.spatialмикросхемы серии 286ru
dc.creatorБаталова А. М., Бекренев С. Н.ru
dc.date.issued2005ru
dc.identifierRU\НТБ СГАУ\458642ru
dc.identifier.citationБаталова, А. М. Методика диагностического контроля микросхем серии 286 / А. М. Баталова, С. Н. Бекренев ; науч. руководитель М. Н. Пиганов // VIII Королевские чтения: Всерос. молодежн. науч. конф. с междунар. участием, 4-6 окт. 2005 г. : сб. тр. / М-во образования и науки Рос. Федерации; Федер. агентство по образованию; Адм. Самар. обл.; Самар. науч. центр Рос. акад. наук; Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева; Гос. науч.-произв. ракет.- косм. центр "ЦСКБ - Прогресс"; ред. И. В. Белоконов. - Самаpа : СГАУ, 2005. - С. 240.ru
dc.sourceVIII Королевские чтения: Всерос. молодежн. науч. конф. с междунар. участием, 4-6 окт. 2005 г. : сб. тр. - Текст : электронныйru
dc.titleМетодика диагностического контроля микросхем серии 286ru
dc.typeTextru
dc.citation.spage240ru
dc.textpartПри разработке методики ДНК ИМС 286ЕП были исследованы ВАХ при обратном смещении входных и выходных цепей составных транзисторов в пле­ чах мискросборки. Исследования показали, что наиболее значительной разброс значений токов утечки, обу...-
Располагается в коллекциях: Королевские чтения

Файлы этого ресурса:
Файл Размер Формат  
Стр. 240.pdf55.39 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.