Отрывок: Рис. 3. Причинно-следственная диаграмма для анализа дефектов СБИС: «Большие кости» причинных факторов: I – этап проектирования и изготовления фотошаблонов; II – этап переноса, совмещения и проявления рисунков фотошаблонов на подложки СБИС; III – этап 1-й и 2-й термообработок; IV – этап травления топологии и удаления фоторезиста маски. «Средние и малые кости» причинных факторов: 1 – ошибки в тех...
Название : Построение причинно-следственных диаграмм качества электронных средств [Электронный ресурс] : [метод. указания]
Авторы/Редакторы : Тюлевин С. В.
Пиганов М. Н.
Министерство образования и науки Российской Федерации
Самарский государственный аэрокосмический университет им. С. П. Королева (национальный исследовательский университет) (СГАУ)
Дата публикации : 2014
Издательство : Изд-во СГАУ
Аннотация : Используемые программы: Adobe Acrobat.
Гриф.
Методические указания предназначены для студентов, обучающихся по специальности 210201 «Проектирование и технология ра-диоэлектронных средств», при освоении дисциплины «Управление ка-чеством электронных средств (ЭС)».
Труды сотрудников СГАУ(электрон. версия).
URI (Унифицированный идентификатор ресурса) : http://repo.ssau.ru/handle/Metodicheskie-ukazaniya/Postroenie-prichinnosledstvennyh-diagramm-kachestva-elektronnyh-sredstv-Elektronnyi-resurs-metod-ukazaniya-53904
Другие идентификаторы : RU/НТБ СГАУ/WALL/621.3/П 637-649597
Ключевые слова: анализ брака ЭС
качество электронных средств
электронные средства (ЭС)
показатели качества
причинно-следственные диаграммы качества ЭС
Располагается в коллекциях: Методические издания

Файлы этого ресурса:
Файл Описание Размер Формат  
Тюлевин С.В. Построение.pdffrom 1C511.86 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.